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题名应用于产品表面缺陷检测的神经网络IBS-Net
被引量:4
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作者
王新宇
蒋三新
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机构
上海电力大学电子与信息工程学院
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出处
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2022年第11期101-107,共7页
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文摘
通过将深度学习的两阶段目标检测算法应用于表面缺陷检测中,并依据产品表面缺陷的特性改进网络,提出了IBS-Net算法,实现缺陷的分类识别与定位。IBS-Net改进在于提出了特征相关的非极大抑制方法(FR-NMS)和正样本扩充方法(PSA),依赖特征层间语义关系筛选候选框,将含有局部缺陷信息的候选框作为半正样本以辅助分类任务,体现由部分缺陷推知整体缺陷的思路;其次,利用缺陷之间的互斥性,提出了多类别非极大抑制方法(CR-NMS)应用于后处理阶段,以优化预测结果;此外,利用缺陷之间的重要性差异,改进了表面缺陷检测评估方法。实验结果表明:IBS-Net对13类芯片表面缺陷和6类热轧钢带表面缺陷的检测综合精准度分别达94.8%和89.2%,证明本算法具有良好的有效性和工程应用价值。
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关键词
表面缺陷检测
芯片表面缺陷
深度学习
神经网络
非极大抑制
正样本扩充
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Keywords
surface defect detection
chip surface defect
deep learning
neural network
non-maximum suppression
positive sample augmentation
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分类号
TP391
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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