期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
一种基于Windows界面的正电子湮没谱分析软件包
1
作者
李辉
周凯
+2 位作者
王柱
陈志权
王少阶
《原子核物理评论》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第3期315-320,共6页
在保留正电子寿命谱分析程序PATFIT和连续谱分析程序MELT主要优点的基础上研究开发了一个新的正电子湮没谱分析软件PASA。主要的改进包括:将PATFIT、MELT和多普勒展宽谱3种正电子湮没分析方法集成在Windows界面程序中,MELT程序脱离MATLA...
在保留正电子寿命谱分析程序PATFIT和连续谱分析程序MELT主要优点的基础上研究开发了一个新的正电子湮没谱分析软件PASA。主要的改进包括:将PATFIT、MELT和多普勒展宽谱3种正电子湮没分析方法集成在Windows界面程序中,MELT程序脱离MATLAB环境独立运行;编写了完整的多普勒展宽谱分析程序,谱文件的读取、输入参数的调节和拟合结果的输出更加方便快捷,重点加强了正电子湮没实验谱和拟合结果的图形显示。介绍PASA软件的使用经验。
展开更多
关键词
正电子湮没谱分析
数据拟合
图形显示
原文传递
W-K合金的正电子湮没寿命谱研究
2
作者
杨力
朱敬军
+2 位作者
安竹
舒小艳
唐军
《四川大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第6期1299-1304,共6页
正电子湮没技术(PAT)是一种无损的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度信息,而电子密度信息能反映材料内部微尺寸变化,正电子对于纳米尺寸缺陷的变化非常敏感.本文用正电子湮没技术中的正电子湮没寿命谱分析技术(PLAS),对W-K...
正电子湮没技术(PAT)是一种无损的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度信息,而电子密度信息能反映材料内部微尺寸变化,正电子对于纳米尺寸缺陷的变化非常敏感.本文用正电子湮没技术中的正电子湮没寿命谱分析技术(PLAS),对W-K混合粉体在不同温度和压强条件下烧结后的微尺寸缺陷变化进行了分析,表明压强对于W-K合金的缺陷变化没有明显的影响,而W-K合金的微尺寸缺陷随温度有明显变化.
展开更多
关键词
正电子
湮没
谱学
W—K合金
正电子
湮没
寿命
谱分析
原文传递
题名
一种基于Windows界面的正电子湮没谱分析软件包
1
作者
李辉
周凯
王柱
陈志权
王少阶
机构
武汉大学物理科学与技术学院
出处
《原子核物理评论》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第3期315-320,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(10775107)~~
文摘
在保留正电子寿命谱分析程序PATFIT和连续谱分析程序MELT主要优点的基础上研究开发了一个新的正电子湮没谱分析软件PASA。主要的改进包括:将PATFIT、MELT和多普勒展宽谱3种正电子湮没分析方法集成在Windows界面程序中,MELT程序脱离MATLAB环境独立运行;编写了完整的多普勒展宽谱分析程序,谱文件的读取、输入参数的调节和拟合结果的输出更加方便快捷,重点加强了正电子湮没实验谱和拟合结果的图形显示。介绍PASA软件的使用经验。
关键词
正电子湮没谱分析
数据拟合
图形显示
Keywords
positron annihilation spectroscopy analysis data fitting graphic display
分类号
TP311.56 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
TP319 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
原文传递
题名
W-K合金的正电子湮没寿命谱研究
2
作者
杨力
朱敬军
安竹
舒小艳
唐军
机构
四川大学原子核科学技术研究所辐射物理及技术教育部重点实验室
出处
《四川大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第6期1299-1304,共6页
文摘
正电子湮没技术(PAT)是一种无损的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度信息,而电子密度信息能反映材料内部微尺寸变化,正电子对于纳米尺寸缺陷的变化非常敏感.本文用正电子湮没技术中的正电子湮没寿命谱分析技术(PLAS),对W-K混合粉体在不同温度和压强条件下烧结后的微尺寸缺陷变化进行了分析,表明压强对于W-K合金的缺陷变化没有明显的影响,而W-K合金的微尺寸缺陷随温度有明显变化.
关键词
正电子
湮没
谱学
W—K合金
正电子
湮没
寿命
谱分析
Keywords
PAT, W-K alloy, PALS
分类号
TG146.4 [金属学及工艺—金属材料]
O572.32 [理学—粒子物理与原子核物理]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种基于Windows界面的正电子湮没谱分析软件包
李辉
周凯
王柱
陈志权
王少阶
《原子核物理评论》
CAS
CSCD
北大核心
2011
0
原文传递
2
W-K合金的正电子湮没寿命谱研究
杨力
朱敬军
安竹
舒小艳
唐军
《四川大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2013
0
原文传递
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部