期刊文献+
共找到2篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
一种基于Windows界面的正电子湮没谱分析软件包
1
作者 李辉 周凯 +2 位作者 王柱 陈志权 王少阶 《原子核物理评论》 CAS CSCD 北大核心 2011年第3期315-320,共6页
在保留正电子寿命谱分析程序PATFIT和连续谱分析程序MELT主要优点的基础上研究开发了一个新的正电子湮没谱分析软件PASA。主要的改进包括:将PATFIT、MELT和多普勒展宽谱3种正电子湮没分析方法集成在Windows界面程序中,MELT程序脱离MATLA... 在保留正电子寿命谱分析程序PATFIT和连续谱分析程序MELT主要优点的基础上研究开发了一个新的正电子湮没谱分析软件PASA。主要的改进包括:将PATFIT、MELT和多普勒展宽谱3种正电子湮没分析方法集成在Windows界面程序中,MELT程序脱离MATLAB环境独立运行;编写了完整的多普勒展宽谱分析程序,谱文件的读取、输入参数的调节和拟合结果的输出更加方便快捷,重点加强了正电子湮没实验谱和拟合结果的图形显示。介绍PASA软件的使用经验。 展开更多
关键词 正电子湮没谱分析 数据拟合 图形显示
原文传递
W-K合金的正电子湮没寿命谱研究
2
作者 杨力 朱敬军 +2 位作者 安竹 舒小艳 唐军 《四川大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2013年第6期1299-1304,共6页
正电子湮没技术(PAT)是一种无损的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度信息,而电子密度信息能反映材料内部微尺寸变化,正电子对于纳米尺寸缺陷的变化非常敏感.本文用正电子湮没技术中的正电子湮没寿命谱分析技术(PLAS),对W-K... 正电子湮没技术(PAT)是一种无损的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度信息,而电子密度信息能反映材料内部微尺寸变化,正电子对于纳米尺寸缺陷的变化非常敏感.本文用正电子湮没技术中的正电子湮没寿命谱分析技术(PLAS),对W-K混合粉体在不同温度和压强条件下烧结后的微尺寸缺陷变化进行了分析,表明压强对于W-K合金的缺陷变化没有明显的影响,而W-K合金的微尺寸缺陷随温度有明显变化. 展开更多
关键词 正电子湮没谱学 W—K合金 正电子湮没寿命谱分析
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部