氮吸附表征超低比表面积的技术突破及其应用

α氧化铝、锂电池正负极材料、原料药及其辅料和膜材料的比表面积值一般都很低。对于比表面积小于0.2m^(2)/g的样品,用一般的物理吸附分析方法很难达到质量控制的重复性要求。为了解决超低比表面材料的质量控制的痛点问题,通过严格控制仪器内部气体的温度、管路的死体积和压力传感器的测量精度,可以实现0.2m^(2)/g左右标准样品比表面积测定的长期稳定性,表现出很高的准确性、客观性和可靠性。对0.04m^(2)/g的样品实现重复性测定,突破了传统氮吸附比表面分析的极限,进入氪气测定比表面的范围,成功实现了用氮气代替氪气进行超低比表面积测定。结合iBox 26智能脱气技术,可以实现自动控温及自动判断脱气完成时间,使样品预处理保持条件一致,为产品的质量控制奠定了坚实的基础。这些新技术的采用,可以使氮吸附测定比表面积的下限极值延伸至0.005m^(2)/g,确保了超低比表面测量的极致精度,并且在机械泵和1000torr压力传感器的P/P_(0)可重复下限从5×10^(-3)下探到1×10^(-5)。这不仅在不增加硬件的基础上满足了氪吸附的测定要求,也满足了微介孔材料的孔径分析要求,还为纳米薄膜的孔径分析建立了新的方法。