分光光度法测定金属硅中铁的线性校正与受控下的不确定度评估

用分光光度法测定金属硅中铁量,来分析讨论如何采用基本方法和控制方法技术,进行校正函数的残差齐性方差检验和有效期间的受控分析。研究结果表明,采用控制方法可以确保测量不确定度尽可能小,以达到检测的最终要求。