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器件及设备时延的线性比相法测量 被引量:2
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作者 周渭 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第1期121-125,共5页
用线性比相方法进行器件及设备的时延测量,不但测量精度高而且设备构成相当简单。可以较容易地获得ns量级直至0.1ns以上的测量精度,是值得推广的方法。该文叙述了双谐波混频器相位差法、单路分频控制鉴相及参差鉴相等高线性度... 用线性比相方法进行器件及设备的时延测量,不但测量精度高而且设备构成相当简单。可以较容易地获得ns量级直至0.1ns以上的测量精度,是值得推广的方法。该文叙述了双谐波混频器相位差法、单路分频控制鉴相及参差鉴相等高线性度鉴相方法在高精度时延检测中的应用及误差分析,并指明了应注意的事项。 展开更多
关键词 鉴相 线性度 器件 设备 比相法测量
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