痕量氢的气敏色谱分析

以气敏半导体元件为鉴定器的气敏色谱法,利用鉴定器对氢和氦、氖的不同选择性,解决了热导色谱法在一般条件下无法解决的灯泡用氩、高纯氮、纯氮中痕量氢的分析,也能分析高纯氩、氩气、氪气、氙气、氧气、空气等气体中的痕量氢,最低检出浓度为0.1ppm,就检出极限而言,比热导色谱法降低了一个数量级。样品气中氢含量为5ppm时,分析误差为10%。考察了载气的净化方法与效果。对方法的选择性、重复性、线性范围进行了试验,都得到了满意的结果。几年来的实殴证明,该分析法具有选择性好、灵敏高度、操作方便、分析速度快和分析结果可靠等特点,特别适用于高纯气中痕量氢的分析。

采用钯分离技术测定高纯氦、氖中痕量氢

利用金属钯或钯合金对氢气独特的渗透能力，在特殊的实验装置及一定的操作条件下，将Ｎｅ或Ｈｅ中Ｈ２定量转移到Ａｒ或Ｎ２气中，以气敏元件为检测器，实现对高纯Ｎｅ、Ｈｅ中痕量Ｈ２的测定，其检测限为０．１×１０－６。