大量氘氩/氖混合气体注入对托卡马克逃逸电流抑制的数值研究

托卡马克等离子体破裂会产生逃逸电流,如不进行抑制,其携带的巨大能量将对设备造成严重破坏。本文使用DREAM程序中的流体模型,基于中国环流器二号M(HL-2M)托卡马克装置大等离子体电流放电条件,研究注入氘氩/氖混合气体对破裂逃逸电流的影响。研究表明:注入氘氩/氖混合气体可以抑制最终形成的平台逃逸电流。在讨论的破裂前等离子体电流I_(p)范围内,最优条件下氩/氖在混合气体中的含量应在0.50%~0.70%,氘的注入量应在10^(20)~10^(21)m^(-3)。在这个范围外,氘氩/氖混合气体注入对逃逸电流的抑制效果都会减弱,甚至会增大逃逸电流。破裂前等离子体电流I_(p)是影响逃逸电流的关键因素。I_(p)越大,形成的逃逸电流越大,也需要注入更多的混合气体。在I_(p)高达10 MA的聚变堆级托卡马克装置上,注入混合气体的密度需要达到10^(22)m^(-3),这是目前大量气体注入(Massive Gas Injection,MGI)技术所不能达到的,通过散裂弹丸注入氘氩/氖混合物将是更加可行的方式。

氪氖电子混合气体中杂质含量的测定

建立了一种氪氖电子混合气体中微量H_(2)、O_(2)、N_(2)、CH_(4)、CF_(4)、CO、CO_(2)的分析方法。采用多阀切割和多色谱柱分离的氦离子化气相色谱仪一次进样实现了氪氖电子混合气体中杂质的分离检测。经过方法验证,证明该方法能够达到较高的准确度和精密度。

氖氩混合气体辉光放电发射光谱法测定钢样中铝的分析特性(英文)

研究了在Ne-Ar混合气体辉光等离子体中铝的原子及离子发射光谱线,并与纯Ar和纯Ne辉光等离子体进行了比较。在不同的放电气体环境下,Al发射线的相对强度不同。在Ne为放电气体时,可以观察到由4f→3d跃迁而产生的AlⅡ358.71 nm和AlⅡ358.66 nm两条发射线,而这两条线在以Ar为放电气体时不会产生。这种现象的原因是由于4f激发态是由Al原子和Ne离子的共振电荷转移碰撞而选择性高几率的产生的。由于亚稳态的Ne与Ar原子的彭宁碰撞会产生大量的Ar离子,因此在Ne等离子体中加入少量的Ar气时,会增加等离子体中气体离子的数量和电子密度。这种在Ne-Ar混合气体中发生的变化导致Al光谱线的发射强度增强。在Al的原子线和离子线中,AlⅡ358.641可被用来作为痕量Al检测的分析线。因为该线在Ne-Ar混合气体等离子体中的强度高,背景低。

一起不凝气积聚导致空分工况异常的原因分析及处理

对一起因氖氦气体积聚影响主冷换热面积,导致工况异常的原因进行了分析,并制定了相应的处理及整改措施。