氖氩混合气体辉光放电发射光谱法测定钢样中铝的分析特性(英文)

研究了在Ne-Ar混合气体辉光等离子体中铝的原子及离子发射光谱线,并与纯Ar和纯Ne辉光等离子体进行了比较。在不同的放电气体环境下,Al发射线的相对强度不同。在Ne为放电气体时,可以观察到由4f→3d跃迁而产生的AlⅡ358.71 nm和AlⅡ358.66 nm两条发射线,而这两条线在以Ar为放电气体时不会产生。这种现象的原因是由于4f激发态是由Al原子和Ne离子的共振电荷转移碰撞而选择性高几率的产生的。由于亚稳态的Ne与Ar原子的彭宁碰撞会产生大量的Ar离子,因此在Ne等离子体中加入少量的Ar气时,会增加等离子体中气体离子的数量和电子密度。这种在Ne-Ar混合气体中发生的变化导致Al光谱线的发射强度增强。在Al的原子线和离子线中,AlⅡ358.641可被用来作为痕量Al检测的分析线。因为该线在Ne-Ar混合气体等离子体中的强度高,背景低。

大量氘氩/氖混合气体注入对托卡马克逃逸电流抑制的数值研究

托卡马克等离子体破裂会产生逃逸电流,如不进行抑制,其携带的巨大能量将对设备造成严重破坏。本文使用DREAM程序中的流体模型,基于中国环流器二号M(HL-2M)托卡马克装置大等离子体电流放电条件,研究注入氘氩/氖混合气体对破裂逃逸电流的影响。研究表明:注入氘氩/氖混合气体可以抑制最终形成的平台逃逸电流。在讨论的破裂前等离子体电流I_(p)范围内,最优条件下氩/氖在混合气体中的含量应在0.50%~0.70%,氘的注入量应在10^(20)~10^(21)m^(-3)。在这个范围外,氘氩/氖混合气体注入对逃逸电流的抑制效果都会减弱,甚至会增大逃逸电流。破裂前等离子体电流I_(p)是影响逃逸电流的关键因素。I_(p)越大,形成的逃逸电流越大,也需要注入更多的混合气体。在I_(p)高达10 MA的聚变堆级托卡马克装置上,注入混合气体的密度需要达到10^(22)m^(-3),这是目前大量气体注入(Massive Gas Injection,MGI)技术所不能达到的,通过散裂弹丸注入氘氩/氖混合物将是更加可行的方式。