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AFM电场诱导氧化加工作用的分析 被引量:1
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作者 胡晓东 郭彤 +1 位作者 傅星 胡小唐 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第3期206-209,共4页
纳米加工技术是纳米器件研究的重要基础条件 ,纳米氧化结构则是纳米器件的重要组成部分。为了深化对AFM电场诱导氧化加工机理的理解 ,本文对Si表面的电场诱导氧化作用进行了实验研究 ,包括探针与样品之间实际电压的监测、不同掺杂Si材... 纳米加工技术是纳米器件研究的重要基础条件 ,纳米氧化结构则是纳米器件的重要组成部分。为了深化对AFM电场诱导氧化加工机理的理解 ,本文对Si表面的电场诱导氧化作用进行了实验研究 ,包括探针与样品之间实际电压的监测、不同掺杂Si材料加工门槛电压的分析及探针扫描速率对氧化物高度的影响。实验分析表明 。 展开更多
关键词 原子力显微镜 AFM 纳米加工技术 纳米器件 电场诱导氧化 门槛电压 氧化结构 氢钝化硅
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