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以氩气为粗漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法
被引量:
4
1
作者
王庚林
李宁博
+1 位作者
李飞
董立军
《中国电子科学研究院学报》
北大核心
2015年第4期436-441,447,共7页
介绍了积累氦质谱检漏仪的出现和积累氦质谱组合检测方法的提出,分析了现行美国军用标准采用的以氦气为粗漏细漏示踪气体组合检测方法的局限性,介绍了改进这种方法的发明专利,指出改进后在适用严密等级τHemin和内腔容积V范围方面的局...
介绍了积累氦质谱检漏仪的出现和积累氦质谱组合检测方法的提出,分析了现行美国军用标准采用的以氦气为粗漏细漏示踪气体组合检测方法的局限性,介绍了改进这种方法的发明专利,指出改进后在适用严密等级τHemin和内腔容积V范围方面的局限性。论述了以氩气为粗漏示踪气体、以氦气为细漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法的优越性,给出了设计这种专利方法的逻辑思路和理论公式,指出这种方法对需要检测的τHemin和V范围,具有良好的适用性,并且提出了改进积累氦质谱检漏仪的要求。
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关键词
积累
氦
质谱检
漏
仪
粗
漏
细
漏
组合检
漏
局限性
氩
气
粗
漏
检测
氦气细漏检测
适用性
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职称材料
题名
以氩气为粗漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法
被引量:
4
1
作者
王庚林
李宁博
李飞
董立军
机构
北京市科通电子继电器总厂有限公司
出处
《中国电子科学研究院学报》
北大核心
2015年第4期436-441,447,共7页
文摘
介绍了积累氦质谱检漏仪的出现和积累氦质谱组合检测方法的提出,分析了现行美国军用标准采用的以氦气为粗漏细漏示踪气体组合检测方法的局限性,介绍了改进这种方法的发明专利,指出改进后在适用严密等级τHemin和内腔容积V范围方面的局限性。论述了以氩气为粗漏示踪气体、以氦气为细漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法的优越性,给出了设计这种专利方法的逻辑思路和理论公式,指出这种方法对需要检测的τHemin和V范围,具有良好的适用性,并且提出了改进积累氦质谱检漏仪的要求。
关键词
积累
氦
质谱检
漏
仪
粗
漏
细
漏
组合检
漏
局限性
氩
气
粗
漏
检测
氦气细漏检测
适用性
Keywords
accumulative helium leak detector
gross/fine leak combination test
limitation
argon gross-leak test
helium fine-leak test
applicability
分类号
TB42 [一般工业技术]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
以氩气为粗漏示踪气体的积累氦质谱组合检测方法
王庚林
李宁博
李飞
董立军
《中国电子科学研究院学报》
北大核心
2015
4
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职称材料
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参考文献
引证文献
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