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氧化失效率与Vdd 和tox的统计关系及其在过程设计、电路设计和终端使用中的应用
1
《电子产品可靠性与环境试验》
2001年第6期48-48,共1页
关键词
氧化失效率
Vdd
tox
统计关系
过程设计
电路设计
终端使用
电源参数
平衡关系
下载PDF
职称材料
题名
氧化失效率与Vdd 和tox的统计关系及其在过程设计、电路设计和终端使用中的应用
1
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2001年第6期48-48,共1页
关键词
氧化失效率
Vdd
tox
统计关系
过程设计
电路设计
终端使用
电源参数
平衡关系
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
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1
氧化失效率与Vdd 和tox的统计关系及其在过程设计、电路设计和终端使用中的应用
《电子产品可靠性与环境试验》
2001
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