连续激光照射下In_2O_3纳米微粒的光学限幅特性

随着现代科学技术的飞速发展 ,高灵敏快速响应探测器产生广泛应用 ,为了避免强光照射对这些精密仪器的损伤 ,光限幅器的需求也日渐迫切。本文用Z -扫描技术测量了表面修饰In2 O3 纳米微粒的有效非线性系数n2 和光学限幅特性曲线 ,发现在连续激光照射下In2 O3 纳米微粒呈现出较好的光限幅特性 ,光限幅阈值明显低于相应的体相材料。在不同入射功率作用下 。