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二次耦合直流输出的金属氧化物TFT行驱动电路
被引量:
4
1
作者
胡宇峰
李冠明
+3 位作者
吴为敬
徐苗
王磊
彭俊彪
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第10期1223-1229,共7页
为了弥补现有氧化物TFT的行驱动电路输出模块在功率消耗、响应速度、输出摆幅等方面的不足,提出了基于二次耦合的直流输出模块,并由此研究设计新的行驱动电路拓扑。仿真结果表明,该输出模块具有驱动能力强、响应速度快等优点。最后,基...
为了弥补现有氧化物TFT的行驱动电路输出模块在功率消耗、响应速度、输出摆幅等方面的不足,提出了基于二次耦合的直流输出模块,并由此研究设计新的行驱动电路拓扑。仿真结果表明,该输出模块具有驱动能力强、响应速度快等优点。最后,基于刻蚀阻挡层(ESL)结构的氧化物TFT工艺,在玻璃衬底上成功制备了该行驱动电路,实测单级功耗为325μW。
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关键词
行驱动电路
氧化铟锌薄膜晶体管
耦合效应
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职称材料
SiO-_2固态电解质中的质子特性对氧化物双电层薄膜晶体管性能的影响
被引量:
1
2
作者
郭文昊
肖惠
门传玲
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第7期327-332,共6页
本文采用等离子体增强化学气相沉积技术(PECVD)在室温条件下制备了具有双电层效应的二氧化硅(SiO2)固体电解质薄膜,并以此SiO2薄膜作为栅介质制备了氧化铟锌(IZO)双电层薄膜晶体管.本文系统地研究了SiO2固体电解质中的质子特性对双电层...
本文采用等离子体增强化学气相沉积技术(PECVD)在室温条件下制备了具有双电层效应的二氧化硅(SiO2)固体电解质薄膜,并以此SiO2薄膜作为栅介质制备了氧化铟锌(IZO)双电层薄膜晶体管.本文系统地研究了SiO2固体电解质中的质子特性对双电层薄膜晶体管性能的影响,研究结果表明,经过纯水浸泡的SiO2固体电解质薄膜可以诱导出较多的可迁移质子,因此表现出较大的双电层电容.由于SiO2固体电解质薄膜具有质子迁移特性,晶体管的转移特性曲线呈现出逆时针方向的洄滞现象,并且这一洄滞效应随着栅极电压扫描速率的增加而增大.进一步对薄膜晶体管的偏压稳定性进行测试,发现晶体管的阈值电压的变化遵循了拉升指数函数(stretched exponential function)关系.
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关键词
氧化铟锌薄膜晶体管
SiO2固体电解质
双电层
质子特性
原文传递
题名
二次耦合直流输出的金属氧化物TFT行驱动电路
被引量:
4
1
作者
胡宇峰
李冠明
吴为敬
徐苗
王磊
彭俊彪
机构
华南理工大学电子与信息学院
华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室
出处
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第10期1223-1229,共7页
基金
国家自然科学基金(61574062
61574061)
+2 种基金
广东省科技计划项目(2015B090914003
2014B090916002
2016B090906002)资助
文摘
为了弥补现有氧化物TFT的行驱动电路输出模块在功率消耗、响应速度、输出摆幅等方面的不足,提出了基于二次耦合的直流输出模块,并由此研究设计新的行驱动电路拓扑。仿真结果表明,该输出模块具有驱动能力强、响应速度快等优点。最后,基于刻蚀阻挡层(ESL)结构的氧化物TFT工艺,在玻璃衬底上成功制备了该行驱动电路,实测单级功耗为325μW。
关键词
行驱动电路
氧化铟锌薄膜晶体管
耦合效应
Keywords
gate driver circuit
IZO thin film transistor
bootstrapping effect
分类号
TP394.1 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
TH691.9 [机械工程—机械制造及自动化]
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职称材料
题名
SiO-_2固态电解质中的质子特性对氧化物双电层薄膜晶体管性能的影响
被引量:
1
2
作者
郭文昊
肖惠
门传玲
机构
上海理工大学能源与动力工程学院
中国科学院宁波材料技术与工程研究所
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第7期327-332,共6页
基金
国家自然科学基金(批准号:11474293)
浙江省自然科学基金(批准号:LY14A040009)
+2 种基金
宁波市自然科学基金(批准号:2014A610145)
上海理工大学国家项目(批准号:14XPM06)
上海市自然科学基金(批准号:13ZR1428200)资助的课题~~
文摘
本文采用等离子体增强化学气相沉积技术(PECVD)在室温条件下制备了具有双电层效应的二氧化硅(SiO2)固体电解质薄膜,并以此SiO2薄膜作为栅介质制备了氧化铟锌(IZO)双电层薄膜晶体管.本文系统地研究了SiO2固体电解质中的质子特性对双电层薄膜晶体管性能的影响,研究结果表明,经过纯水浸泡的SiO2固体电解质薄膜可以诱导出较多的可迁移质子,因此表现出较大的双电层电容.由于SiO2固体电解质薄膜具有质子迁移特性,晶体管的转移特性曲线呈现出逆时针方向的洄滞现象,并且这一洄滞效应随着栅极电压扫描速率的增加而增大.进一步对薄膜晶体管的偏压稳定性进行测试,发现晶体管的阈值电压的变化遵循了拉升指数函数(stretched exponential function)关系.
关键词
氧化铟锌薄膜晶体管
SiO2固体电解质
双电层
质子特性
Keywords
indium zinc oxide thin-film-transistors(IZO TFTs)
SiO2-based solid electrolyte
electricdouble-layer(EDL)
proton characteristics
分类号
O469 [理学—凝聚态物理]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
二次耦合直流输出的金属氧化物TFT行驱动电路
胡宇峰
李冠明
吴为敬
徐苗
王磊
彭俊彪
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016
4
下载PDF
职称材料
2
SiO-_2固态电解质中的质子特性对氧化物双电层薄膜晶体管性能的影响
郭文昊
肖惠
门传玲
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015
1
原文传递
已选择
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