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增强型GaN功率管的可靠性分析
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作者 赵媛 王立新 +1 位作者 赵高峰 郭敏 《集成电路应用》 2024年第4期22-25,共4页
阐述氮化镓器件的结构和特性,描述其开关导通过程并搭建等效模型,从内部驱动电路和外界共模瞬态(CMT)事件的影响两方面进行分析,得出影响氮化镓功率器件可靠性的因素,基于此可靠性分析提出对于不同功率管误开启事件采用的不同解决方案,... 阐述氮化镓器件的结构和特性,描述其开关导通过程并搭建等效模型,从内部驱动电路和外界共模瞬态(CMT)事件的影响两方面进行分析,得出影响氮化镓功率器件可靠性的因素,基于此可靠性分析提出对于不同功率管误开启事件采用的不同解决方案,并通过Cadence仿真软件进行ADE仿真,印证其可靠性结果。 展开更多
关键词 增强型氮化镓器件 半桥驱动电路 欠阻尼关断 共模瞬态抗扰度
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寄生电感对低压增强型GaN HEMT开关行为的影响 被引量:1
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作者 彭子和 秦海鸿 +2 位作者 修强 张英 荀倩 《半导体技术》 CAS 北大核心 2019年第4期257-264,共8页
寄生电感是影响功率管开关特性的重要因素之一,开关频率越高,寄生电感对低压增强型氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)的开关行为影响越深,使其无法发挥高速开关的性能优势。通过建立数学模型,理论分析了考虑各部分寄生电感后增强型GaN... 寄生电感是影响功率管开关特性的重要因素之一,开关频率越高,寄生电感对低压增强型氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)的开关行为影响越深,使其无法发挥高速开关的性能优势。通过建立数学模型,理论分析了考虑各部分寄生电感后增强型GaN HEMT的开关过程,并推导了各阶段的持续时间和影响因素,然后通过建立双脉冲测试平台,对各部分寄生电感对开关特性的具体影响进行了实验验证。实验结果表明,寄生电感会使开关过程中的电流、电压出现振荡,影响开关速度和可靠性,并且各部分寄生电感对增强型GaN HEMT的开关过程影响程度不同,在实际PCB布局受到物理限制时,需要根据设计目标优化布局,合理分配各部分寄生电感以获得最优的开关性能。 展开更多
关键词 增强型氮化镓(GaN)HEMT 开关行为 寄生电感 双脉冲测试 优化布局
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GaN E-D HEMT集成逻辑门电路特性研究 被引量:1
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作者 刘涛 刘昊 +6 位作者 周建军 孔岑 陆海燕 董逊 张有涛 孔月婵 陈堂胜 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2013年第6期509-513,521,共6页
基于金属有机化学气相沉积(MOCVD)生长的高质量AlGaN/GaN异质结构材料,采用选择性栅挖槽结合栅介质工艺实现GaN增强型/耗尽型(E/D)HEMT器件的集成,应用直接耦合场效应管逻辑(DCFL)设计并研制GaN E/D HEMT集成逻辑门电路。通过对GaN E/D... 基于金属有机化学气相沉积(MOCVD)生长的高质量AlGaN/GaN异质结构材料,采用选择性栅挖槽结合栅介质工艺实现GaN增强型/耗尽型(E/D)HEMT器件的集成,应用直接耦合场效应管逻辑(DCFL)设计并研制GaN E/D HEMT集成逻辑门电路。通过对GaN E/D器件性能以及逻辑门电路性能的分析讨论,研究了GaN E/D器件性能对逻辑门电路性能的影响。同时还对选择性栅挖槽结合栅介质工艺实现GaN E/D器件存在的问题进行了分析讨论。 展开更多
关键词 铝镓氮 氮化镓 氮化镓增强型 耗尽型高电子迁移率晶体管 直接耦合场效应管逻辑 逻辑门结构 阈值电压漂移
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基于GaN HEMT的半桥LLC优化设计和损耗分析 被引量:1
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作者 姚盛秾 韩金刚 +2 位作者 李霞光 范辉 汤天浩 《电源学报》 CSCD 北大核心 2019年第3期83-90,共8页
较之于传统硅器件,新出现的增强型氮化镓晶体管GaN HEMTs(gallium nitride high electron mobility transistors)具有很高的开关速度和高功率密度的特性,可以为直流变换器提供有效的改进。为了解决GaN HEMT在硬开关应用场合下的波形振... 较之于传统硅器件,新出现的增强型氮化镓晶体管GaN HEMTs(gallium nitride high electron mobility transistors)具有很高的开关速度和高功率密度的特性,可以为直流变换器提供有效的改进。为了解决GaN HEMT在硬开关应用场合下的波形振荡并提高功率密度和效率,采用半桥LLC谐振变换器为本次应用的拓扑结构。以减小损耗为目的,优化了LLC的谐振参数和死区时间。在400 V输入电压、开关频率300 kHz和输出电压18 V电流12 A的测试条件下,效率达到95.59%。最后对变换器的损耗来源进行分析,损耗的理论计算值接近实际测量值,证明了方法具有一定的实用性。 展开更多
关键词 增强型氮化镓晶体管(GaN HEMT) 半桥LLC 软开关 损耗分析
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An Improved Active Miller Clamp Crosstalk Suppression Method for Enhancement-Mode GaN HEMTs in Phase-Leg Configuration
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作者 QIN Haihong WANG Wenlu +3 位作者 BU Feifei PENG Zihe LIU Ao BAI Song 《Transactions of Nanjing University of Aeronautics and Astronautics》 EI CSCD 2021年第5期758-768,共11页
When using traditional drive circuits,the enhancement-mode GaN(eGaN)HEMT will be affected by high switching speed characteristics and parasitic parameters leading to worse crosstalk problems.Currently,the existing cro... When using traditional drive circuits,the enhancement-mode GaN(eGaN)HEMT will be affected by high switching speed characteristics and parasitic parameters leading to worse crosstalk problems.Currently,the existing crosstalk suppression drive circuits often have the disadvantages of increased switching loss,control complexity,and overall electromagnetic interference(EMI).Therefore,this paper combines the driving loop impedance control and the active Miller clamp method to propose an improved active Miller clamp drive circuit.First,the crosstalk mechanism is analyzed,and the crosstalk voltage model is established.Through the crosstalk voltage evaluation platform,the influencing factors are evaluated experimentally.Then,the operating principle of the improved active Miller clamp drive circuit is discussed,and the optimized parameter design method is given.Finally,the effect of the improved active Miller clamp method for suppressing crosstalk is experimentally verified.The crosstalk voltage was suppressed from 3.5 V and-3.5 V to 1 V and-1.3 V,respectively,by the improved circuit. 展开更多
关键词 enhancement-mode GaN(eGaN) crosstalk suppression gate driver high-speed switching active clamp
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