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高阻硅基GaN晶片上MIS栅结构GaN HEMT射频器件研制
被引量:
1
1
作者
顾子悦
吴灯鹏
+2 位作者
程新红
刘晓博
俞跃辉
《微波学报》
CSCD
北大核心
2019年第4期16-20,共5页
5G通信中3.4~3.6 GHz是主要使用频段。GaN射频器件由于高频、低功耗、高线性度等优势,满足5G通信应用需求。文中在高阻硅基GaN外延片上研制了AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(High Electron Mobility Transistor, HEMT),并分析了金属-绝缘...
5G通信中3.4~3.6 GHz是主要使用频段。GaN射频器件由于高频、低功耗、高线性度等优势,满足5G通信应用需求。文中在高阻硅基GaN外延片上研制了AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(High Electron Mobility Transistor, HEMT),并分析了金属-绝缘层-半导体(Metal-Insulator-Semiconductor,MIS)栅对器件直流和射频特性的影响。研究发现:相比于肖特基栅结构,MIS栅结构器件栅极泄漏电流减少2~5个数量级,漏极驱动电流能力和跨导提高10%以上;频率为3.5 GHz时,增益从1.5 dB提升到4.0 dB,最大资用增益从5.2 dB提升到11.0 dB,电流增益截止频率为8.3 GHz,最高振荡频率为10.0 GHz。
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关键词
高阻硅
氮化镓射频
金属-绝缘层-半导体栅结构
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职称材料
题名
高阻硅基GaN晶片上MIS栅结构GaN HEMT射频器件研制
被引量:
1
1
作者
顾子悦
吴灯鹏
程新红
刘晓博
俞跃辉
机构
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
中国科学院大学
出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
2019年第4期16-20,共5页
基金
上海市科委项目(18511105202,17521106400)
文摘
5G通信中3.4~3.6 GHz是主要使用频段。GaN射频器件由于高频、低功耗、高线性度等优势,满足5G通信应用需求。文中在高阻硅基GaN外延片上研制了AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(High Electron Mobility Transistor, HEMT),并分析了金属-绝缘层-半导体(Metal-Insulator-Semiconductor,MIS)栅对器件直流和射频特性的影响。研究发现:相比于肖特基栅结构,MIS栅结构器件栅极泄漏电流减少2~5个数量级,漏极驱动电流能力和跨导提高10%以上;频率为3.5 GHz时,增益从1.5 dB提升到4.0 dB,最大资用增益从5.2 dB提升到11.0 dB,电流增益截止频率为8.3 GHz,最高振荡频率为10.0 GHz。
关键词
高阻硅
氮化镓射频
金属-绝缘层-半导体栅结构
Keywords
high resistance silicon
GaN RF
MIS gate structure
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
TN722.75 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
高阻硅基GaN晶片上MIS栅结构GaN HEMT射频器件研制
顾子悦
吴灯鹏
程新红
刘晓博
俞跃辉
《微波学报》
CSCD
北大核心
2019
1
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职称材料
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参考文献
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