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水平温梯冷凝法生长ZnGeP_2单晶 被引量:2
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作者 吴海信 陈林 +3 位作者 王振友 黄飞 倪友保 毛明生 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第A01期152-154,158,共4页
采用高纯(6mol/L)Ge、Zn、P单质为原料,按化学计量比并富P 0.2%配料,通过双温区法合成ZnGeP2多晶粉料,再用水平温梯冷凝法(HGF)生长出尺寸达10mm×20mm×80mm的单晶棒。对单晶进行了X射线衍射、红外透过率、热导率等测试,测试... 采用高纯(6mol/L)Ge、Zn、P单质为原料,按化学计量比并富P 0.2%配料,通过双温区法合成ZnGeP2多晶粉料,再用水平温梯冷凝法(HGF)生长出尺寸达10mm×20mm×80mm的单晶棒。对单晶进行了X射线衍射、红外透过率、热导率等测试,测试结果表明;单晶完整性好,红外透过率较高;5mm厚晶片(未退火、镀膜)在2~8μm范围内平均透过率可达54%以上;在室温附近(297.34K)热导率为35.89W/(m.K)。 展开更多
关键词 磷锗锌 水平温梯冷凝法 X射线粉末衍射 红外透过率 热导率
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