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水平掺硅砷化镓单晶生长过程中位错的控制
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作者 于洪国 武壮文 +1 位作者 王继荣 张海涛 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期3079-3080,共2页
讨论了如何在水平砷化镓单晶生长过程中进行位错控制,通过控制熔区的长短,使单晶的生长过程更趋稳定,和控制生长界面的形状以及界面处的温度梯度,减少了位错的产生和增殖.采取以上措施可以在一定程度上降低位错.
关键词 水平砷化镓 位错密度 熔区 温度梯度
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光电基础材料缺陷的研究
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作者 武壮文 于洪国 +1 位作者 王继荣 张海涛 《广播电视信息》 2006年第11期76-77,共2页
本文讨论了如何在光电基础材料(水平砷化镓单晶)生长过程中进行缺陷(位错密度)控制,通过控制熔区的长度,使单晶的生长过程更趋稳定,和控制生长界面的形状以及界面处的温度梯度,减少了位错的产生和增殖。采取以上措施可以在一定程度上降... 本文讨论了如何在光电基础材料(水平砷化镓单晶)生长过程中进行缺陷(位错密度)控制,通过控制熔区的长度,使单晶的生长过程更趋稳定,和控制生长界面的形状以及界面处的温度梯度,减少了位错的产生和增殖。采取以上措施可以在一定程度上降低位错密度。 展开更多
关键词 光电基础材料(水平砷化镓) 缺陷(位错密度) 熔区 温度梯度
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