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题名水平掺硅砷化镓单晶生长过程中位错的控制
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作者
于洪国
武壮文
王继荣
张海涛
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机构
北京有色金属研究总院
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出处
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第z1期3079-3080,共2页
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文摘
讨论了如何在水平砷化镓单晶生长过程中进行位错控制,通过控制熔区的长短,使单晶的生长过程更趋稳定,和控制生长界面的形状以及界面处的温度梯度,减少了位错的产生和增殖.采取以上措施可以在一定程度上降低位错.
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关键词
水平砷化镓
位错密度
熔区
温度梯度
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分类号
TN304.2+3
[电子电信—物理电子学]
O782
[理学—晶体学]
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题名光电基础材料缺陷的研究
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作者
武壮文
于洪国
王继荣
张海涛
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出处
《广播电视信息》
2006年第11期76-77,共2页
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文摘
本文讨论了如何在光电基础材料(水平砷化镓单晶)生长过程中进行缺陷(位错密度)控制,通过控制熔区的长度,使单晶的生长过程更趋稳定,和控制生长界面的形状以及界面处的温度梯度,减少了位错的产生和增殖。采取以上措施可以在一定程度上降低位错密度。
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关键词
光电基础材料(水平砷化镓)
缺陷(位错密度)
熔区
温度梯度
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分类号
TN204
[电子电信—物理电子学]
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