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高密度电阻率法在敦煌莫高窟水汽调查中的初步应用 被引量:10
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作者 郭青林 王旭东 +3 位作者 李最雄 小泉圭吾 谷本亲伯 舛屋直 《敦煌研究》 CSSCI 北大核心 2008年第6期79-82,124,共5页
敦煌莫高窟壁画受自身材质和自然环境等的影响,产生起甲、酥碱、空鼓、壁画大面积脱落等多种病害,多项研究已经证明,这些病害主要是由水盐运移导致的,而水汽是激活和导致盐分运移的主要因素。我们使用高密度电阻率法对石窟围岩状况、莫... 敦煌莫高窟壁画受自身材质和自然环境等的影响,产生起甲、酥碱、空鼓、壁画大面积脱落等多种病害,多项研究已经证明,这些病害主要是由水盐运移导致的,而水汽是激活和导致盐分运移的主要因素。我们使用高密度电阻率法对石窟围岩状况、莫高窟窟前林带区和崖顶降水入渗前后进行了现场测定,结果表明:(1)莫高窟后部崖体从表面到深度100m的地层不存在自由水;(2)莫高窟窟前林带灌溉水通过表层堆积物向崖面渗透,使洞窟岩体内的水汽含量增高,有激活盐分的可能;(3)少量的降水依然能以较慢的速度通过渗透性较好的地层或崖体裂隙渗透到洞窟的顶部,激活岩体和地仗内的盐分,导致壁画病害的发生。 展开更多
关键词 莫高窟 高密度电阻率法 水汽调查
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