一种物体比辐射率的新型四次测量法及增温补偿

提出了测量物体比辐射率的二次照度四次测量法.根据自主研制的仪器表明该方法和设计能够测量到与照射到被测目标完全一致的热辐射源辐照度,并且能够排除传感器镜头、腔壁等的干扰.不仅提高测量精度,而且可以设计成小尺寸便携式的比辐射率测定仪.设计的1 000 w/m^2以上的强热辐射源,大幅度提高仪器信噪比.为了补偿在强热辐射源下的被测目标的增温,提出了在非同温系统中求解比辐射率普适表达式以及补偿增温的"过程法".从而解决了在非同温系统中温度变化造成比辐射率测量误差的瓶颈问题.三种比辐射率测量方法对比表明,该方法优于其它两种方法.