基于高光谱技术的陶瓷绝缘子污秽等级检测

陶瓷绝缘子污秽等级检测主要采用等值盐密法、表面污层电导法、泄漏电流法等传统方法,检测过程耗时长、效率低。高光谱技术能够非接触地获取目标图谱信息且信息量丰富,在绝缘子污秽检测方面有较大应用潜力,因此文中提出基于高光谱技术的陶瓷绝缘子污秽等级检测方法。首先,由于陶瓷绝缘子的材质原因,采集其高光谱图像时存在反光现象,因此采用直方图均衡化处理高光谱图像,去除反光干扰;然后,对高光谱图像进行预处理,去除噪声干扰;接着,采用连续投影算法(SPA)对样本谱线进行特征提取,去除冗余信息;最后,根据特征谱线建立支持向量机(SVM)分类模型,实现陶瓷样品的污秽等级划分,其准确率可达95%。