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沟道刻蚀型a—SiTFT矩阵的制造工艺
1
作者
王洪岩
《光电技术》
2003年第4期10-13,共4页
沟道刻蚀型a-SiTFT是TFT的一种。本文介绍了沟道刻蚀型a-SiTFT矩阵的结构和原理.重点介绍了它的制造工艺。
关键词
沟道刻蚀型a-sitft矩阵
制造工艺
平板显示器件
TFT-LCD结构
成膜方法
下载PDF
职称材料
TFT5次光刻背沟道刻蚀型与保护型工艺
被引量:
2
2
作者
辛玉洁
于春崎
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第12期1080-1083,共4页
5次光刻工艺(简称5PEP)是一种新的研究,分为背沟道刻蚀型和背沟道保护型。5PEP改变了TFT结构和原理,相对于常用的7 PEP可缩短生产周期,减少使用设备,提升成品率,降低成本。研究制定了背沟道刻蚀型与背沟道保护型5PEP的主要工序步骤,并通...
5次光刻工艺(简称5PEP)是一种新的研究,分为背沟道刻蚀型和背沟道保护型。5PEP改变了TFT结构和原理,相对于常用的7 PEP可缩短生产周期,减少使用设备,提升成品率,降低成本。研究制定了背沟道刻蚀型与背沟道保护型5PEP的主要工序步骤,并通过50.8 mm液晶屏多次小批量投产进行试验。探讨了刻蚀型5PEP中a-Si岛刻蚀不良、SiNx刻蚀跨断等问题。取得合理的工艺参数,使5PEP能应用于小尺寸液晶屏的TFT量产。
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关键词
薄膜晶体管
5次光刻
背
沟
道
刻蚀
型
背
沟
道
保护
型
a-Si岛
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职称材料
保护层对背沟道刻蚀型金属氧化物IGZO TFT性能的研究
被引量:
3
3
作者
陶家顺
刘翔
《光电子技术》
CAS
北大核心
2020年第4期298-301,共4页
研究了保护层对背沟道刻蚀型IGZO TFT性能及其稳定性的影响。结果显示,在正电压应力下TFT的阈值电压正向漂移。通过数据分析得知,保护层对水汽的阻挡能力直接影响到IGZO TFT的性能和稳定性。通过优化TFT的保护层,可以有效阻挡水汽渗透...
研究了保护层对背沟道刻蚀型IGZO TFT性能及其稳定性的影响。结果显示,在正电压应力下TFT的阈值电压正向漂移。通过数据分析得知,保护层对水汽的阻挡能力直接影响到IGZO TFT的性能和稳定性。通过优化TFT的保护层,可以有效阻挡水汽渗透到背沟道表面形成缺陷态,提升IGZO TFT器件的稳定性。
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关键词
金属铟镓锌氧化物薄膜晶体管
背
沟
道
刻蚀
型
保护层
阈值电压漂移
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职称材料
3000V 10A 4H-SiC结型场效应晶体管的设计与制造
被引量:
6
4
作者
刘涛
陈刚
+6 位作者
黄润华
柏松
陶永洪
汪玲
刘奥
李赟
赵志飞
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第3期187-190,共4页
介绍了一种常开型高压4H-SiC JFET的仿真与制造工艺。通过仿真对器件结构和加工工艺进行优化,指导下一步的工艺改进。在N+型4H-SiC衬底上生长掺杂浓度(ND)为1.0×1015 cm-3,厚度为50μm的N-外延层,并采用本实验室开发的SiC JFET工...
介绍了一种常开型高压4H-SiC JFET的仿真与制造工艺。通过仿真对器件结构和加工工艺进行优化,指导下一步的工艺改进。在N+型4H-SiC衬底上生长掺杂浓度(ND)为1.0×1015 cm-3,厚度为50μm的N-外延层,并采用本实验室开发的SiC JFET工艺进行了器件工艺加工。通过测试,当栅极偏压VG=-6V时,研制的SiC JFET可以阻断3 000V电压;当栅极偏压VG=7V、漏极电压VD=3V时,正向漏极电流大于10A,对应的电流密度为100A/cm2。
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关键词
4H
型
SiC
垂直
沟
道
结
型
场效应晶体管
沟
槽
刻蚀
下载PDF
职称材料
Maxim新推升压型转换器
5
《电子产品世界》
2005年第05A期139-139,共1页
Maxim新近推出的MAX8727.可为有源矩阵LCD(AMLCD)提供高压模拟电源。MAX8727的高性能电流模式、固定频率、脉宽调制电路,配合内置N沟道MOSFET,可实现较高的效率和快速响应。较高的开关频率便于滤波,可获得快速环路性能。一个外部补...
Maxim新近推出的MAX8727.可为有源矩阵LCD(AMLCD)提供高压模拟电源。MAX8727的高性能电流模式、固定频率、脉宽调制电路,配合内置N沟道MOSFET,可实现较高的效率和快速响应。较高的开关频率便于滤波,可获得快速环路性能。一个外部补偿引脚可用来灵活设置环路的动态特性。这样,用户就可选用小尺寸、低ESR的陶瓷电容。
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关键词
MAXIM
转换器
升压
型
脉宽调制电路
MOSFET
模拟电源
有源
矩阵
电流模式
固定频率
快速响应
开关频率
环路性能
动态特性
外部补偿
陶瓷电容
N
沟
道
小尺寸
ESR
内置
滤波
引脚
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职称材料
高可靠性Cu BCE a-IGZO TFTs的制作(英文)
6
作者
王晓
葛世民
李珊
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第11期925-930,共6页
背沟道刻蚀型(BCE)非晶氧化铟镓锌薄膜晶体管(a^-IGZO TFT)具有工艺简单、寄生电容小以及开口率高等优点,但BCE IGZO器件背沟道易受酸液和等离子体损伤,进而引起TFT均匀性和稳定性等方面问题,随着GOA技术的导入,对TFT器件电学性能的均...
背沟道刻蚀型(BCE)非晶氧化铟镓锌薄膜晶体管(a^-IGZO TFT)具有工艺简单、寄生电容小以及开口率高等优点,但BCE IGZO器件背沟道易受酸液和等离子体损伤,进而引起TFT均匀性和稳定性等方面问题,随着GOA技术的导入,对TFT器件电学性能的均匀性和稳定性提升的要求也日益迫切,因此开发高信赖性BCE IGZO TFT是技术和市场的迫切要求。本文主要分析了基于IGZO的背沟道刻蚀型薄膜晶体管电学性质,通过优化钝化层材料,色阻材料以及GOA TFT结构等削弱因背沟道水汽吸附引起的器件劣化,偏压温度应力测试结果显示优化后的TFT展现了良好的稳定性——在80℃,栅极30V负向偏压条件下,2 000s的ΔV_(th)小于1V。最终,利用优化的IGZO TFT制作了215.9mm(85in)8K4K120Hz液晶显示器。
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关键词
背
沟
道
刻蚀
型
非晶氧化物薄膜晶体管
215.9mm(85in)
8K4K
GOA
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职称材料
题名
沟道刻蚀型a—SiTFT矩阵的制造工艺
1
作者
王洪岩
机构
南京华日液晶显示技术有限公司
出处
《光电技术》
2003年第4期10-13,共4页
文摘
沟道刻蚀型a-SiTFT是TFT的一种。本文介绍了沟道刻蚀型a-SiTFT矩阵的结构和原理.重点介绍了它的制造工艺。
关键词
沟道刻蚀型a-sitft矩阵
制造工艺
平板显示器件
TFT-LCD结构
成膜方法
分类号
TN873.93 [电子电信—信息与通信工程]
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职称材料
题名
TFT5次光刻背沟道刻蚀型与保护型工艺
被引量:
2
2
作者
辛玉洁
于春崎
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
长春方圆光电技术有限责任公司
中国科学院研究生院
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第12期1080-1083,共4页
文摘
5次光刻工艺(简称5PEP)是一种新的研究,分为背沟道刻蚀型和背沟道保护型。5PEP改变了TFT结构和原理,相对于常用的7 PEP可缩短生产周期,减少使用设备,提升成品率,降低成本。研究制定了背沟道刻蚀型与背沟道保护型5PEP的主要工序步骤,并通过50.8 mm液晶屏多次小批量投产进行试验。探讨了刻蚀型5PEP中a-Si岛刻蚀不良、SiNx刻蚀跨断等问题。取得合理的工艺参数,使5PEP能应用于小尺寸液晶屏的TFT量产。
关键词
薄膜晶体管
5次光刻
背
沟
道
刻蚀
型
背
沟
道
保护
型
a-Si岛
Keywords
TFT
5PEP
back-channel-etching
back-channel protection
a-Si island
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
O484.1 [理学—固体物理]
下载PDF
职称材料
题名
保护层对背沟道刻蚀型金属氧化物IGZO TFT性能的研究
被引量:
3
3
作者
陶家顺
刘翔
机构
南京中电熊猫平板显示科技有限公司
成都中电熊猫显示科技有限公司
出处
《光电子技术》
CAS
北大核心
2020年第4期298-301,共4页
文摘
研究了保护层对背沟道刻蚀型IGZO TFT性能及其稳定性的影响。结果显示,在正电压应力下TFT的阈值电压正向漂移。通过数据分析得知,保护层对水汽的阻挡能力直接影响到IGZO TFT的性能和稳定性。通过优化TFT的保护层,可以有效阻挡水汽渗透到背沟道表面形成缺陷态,提升IGZO TFT器件的稳定性。
关键词
金属铟镓锌氧化物薄膜晶体管
背
沟
道
刻蚀
型
保护层
阈值电压漂移
Keywords
IGZO TFT
back channel etched type
passivation layer
threshold voltage shift
分类号
TN383 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
3000V 10A 4H-SiC结型场效应晶体管的设计与制造
被引量:
6
4
作者
刘涛
陈刚
黄润华
柏松
陶永洪
汪玲
刘奥
李赟
赵志飞
机构
宽禁带半导体电力电子器件国家重点实验室南京电子器件研究所
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第3期187-190,共4页
文摘
介绍了一种常开型高压4H-SiC JFET的仿真与制造工艺。通过仿真对器件结构和加工工艺进行优化,指导下一步的工艺改进。在N+型4H-SiC衬底上生长掺杂浓度(ND)为1.0×1015 cm-3,厚度为50μm的N-外延层,并采用本实验室开发的SiC JFET工艺进行了器件工艺加工。通过测试,当栅极偏压VG=-6V时,研制的SiC JFET可以阻断3 000V电压;当栅极偏压VG=7V、漏极电压VD=3V时,正向漏极电流大于10A,对应的电流密度为100A/cm2。
关键词
4H
型
SiC
垂直
沟
道
结
型
场效应晶体管
沟
槽
刻蚀
Keywords
4H-SiC
vertical junction field-effect transistor(VJFET)
trench etching
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
Maxim新推升压型转换器
5
出处
《电子产品世界》
2005年第05A期139-139,共1页
文摘
Maxim新近推出的MAX8727.可为有源矩阵LCD(AMLCD)提供高压模拟电源。MAX8727的高性能电流模式、固定频率、脉宽调制电路,配合内置N沟道MOSFET,可实现较高的效率和快速响应。较高的开关频率便于滤波,可获得快速环路性能。一个外部补偿引脚可用来灵活设置环路的动态特性。这样,用户就可选用小尺寸、低ESR的陶瓷电容。
关键词
MAXIM
转换器
升压
型
脉宽调制电路
MOSFET
模拟电源
有源
矩阵
电流模式
固定频率
快速响应
开关频率
环路性能
动态特性
外部补偿
陶瓷电容
N
沟
道
小尺寸
ESR
内置
滤波
引脚
分类号
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
TP332.3 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
高可靠性Cu BCE a-IGZO TFTs的制作(英文)
6
作者
王晓
葛世民
李珊
机构
陕西科技大学电气与信息工程学院
深圳华星光电半导体显示技术有限公司
出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第11期925-930,共6页
文摘
背沟道刻蚀型(BCE)非晶氧化铟镓锌薄膜晶体管(a^-IGZO TFT)具有工艺简单、寄生电容小以及开口率高等优点,但BCE IGZO器件背沟道易受酸液和等离子体损伤,进而引起TFT均匀性和稳定性等方面问题,随着GOA技术的导入,对TFT器件电学性能的均匀性和稳定性提升的要求也日益迫切,因此开发高信赖性BCE IGZO TFT是技术和市场的迫切要求。本文主要分析了基于IGZO的背沟道刻蚀型薄膜晶体管电学性质,通过优化钝化层材料,色阻材料以及GOA TFT结构等削弱因背沟道水汽吸附引起的器件劣化,偏压温度应力测试结果显示优化后的TFT展现了良好的稳定性——在80℃,栅极30V负向偏压条件下,2 000s的ΔV_(th)小于1V。最终,利用优化的IGZO TFT制作了215.9mm(85in)8K4K120Hz液晶显示器。
关键词
背
沟
道
刻蚀
型
非晶氧化物薄膜晶体管
215.9mm(85in)
8K4K
GOA
Keywords
BCE a-IGZO TFT
215.9mm(85in)
8K4K
GOA
分类号
TN141.9 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
沟道刻蚀型a—SiTFT矩阵的制造工艺
王洪岩
《光电技术》
2003
0
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职称材料
2
TFT5次光刻背沟道刻蚀型与保护型工艺
辛玉洁
于春崎
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008
2
下载PDF
职称材料
3
保护层对背沟道刻蚀型金属氧化物IGZO TFT性能的研究
陶家顺
刘翔
《光电子技术》
CAS
北大核心
2020
3
下载PDF
职称材料
4
3000V 10A 4H-SiC结型场效应晶体管的设计与制造
刘涛
陈刚
黄润华
柏松
陶永洪
汪玲
刘奥
李赟
赵志飞
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2016
6
下载PDF
职称材料
5
Maxim新推升压型转换器
《电子产品世界》
2005
0
下载PDF
职称材料
6
高可靠性Cu BCE a-IGZO TFTs的制作(英文)
王晓
葛世民
李珊
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2018
0
下载PDF
职称材料
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