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沟道刻蚀型a—SiTFT矩阵的制造工艺
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作者 王洪岩 《光电技术》 2003年第4期10-13,共4页
沟道刻蚀型a-SiTFT是TFT的一种。本文介绍了沟道刻蚀型a-SiTFT矩阵的结构和原理.重点介绍了它的制造工艺。
关键词 沟道刻蚀型a-sitft矩阵 制造工艺 平板显示器件 TFT-LCD结构 成膜方法
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TFT5次光刻背沟道刻蚀型与保护型工艺 被引量:2
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作者 辛玉洁 于春崎 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第12期1080-1083,共4页
5次光刻工艺(简称5PEP)是一种新的研究,分为背沟道刻蚀型和背沟道保护型。5PEP改变了TFT结构和原理,相对于常用的7 PEP可缩短生产周期,减少使用设备,提升成品率,降低成本。研究制定了背沟道刻蚀型与背沟道保护型5PEP的主要工序步骤,并通... 5次光刻工艺(简称5PEP)是一种新的研究,分为背沟道刻蚀型和背沟道保护型。5PEP改变了TFT结构和原理,相对于常用的7 PEP可缩短生产周期,减少使用设备,提升成品率,降低成本。研究制定了背沟道刻蚀型与背沟道保护型5PEP的主要工序步骤,并通过50.8 mm液晶屏多次小批量投产进行试验。探讨了刻蚀型5PEP中a-Si岛刻蚀不良、SiNx刻蚀跨断等问题。取得合理的工艺参数,使5PEP能应用于小尺寸液晶屏的TFT量产。 展开更多
关键词 薄膜晶体管 5次光刻 刻蚀 保护 a-Si岛
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保护层对背沟道刻蚀型金属氧化物IGZO TFT性能的研究 被引量:3
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作者 陶家顺 刘翔 《光电子技术》 CAS 北大核心 2020年第4期298-301,共4页
研究了保护层对背沟道刻蚀型IGZO TFT性能及其稳定性的影响。结果显示,在正电压应力下TFT的阈值电压正向漂移。通过数据分析得知,保护层对水汽的阻挡能力直接影响到IGZO TFT的性能和稳定性。通过优化TFT的保护层,可以有效阻挡水汽渗透... 研究了保护层对背沟道刻蚀型IGZO TFT性能及其稳定性的影响。结果显示,在正电压应力下TFT的阈值电压正向漂移。通过数据分析得知,保护层对水汽的阻挡能力直接影响到IGZO TFT的性能和稳定性。通过优化TFT的保护层,可以有效阻挡水汽渗透到背沟道表面形成缺陷态,提升IGZO TFT器件的稳定性。 展开更多
关键词 金属铟镓锌氧化物薄膜晶体管 刻蚀 保护层 阈值电压漂移
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3000V 10A 4H-SiC结型场效应晶体管的设计与制造 被引量:6
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作者 刘涛 陈刚 +6 位作者 黄润华 柏松 陶永洪 汪玲 刘奥 李赟 赵志飞 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2016年第3期187-190,共4页
介绍了一种常开型高压4H-SiC JFET的仿真与制造工艺。通过仿真对器件结构和加工工艺进行优化,指导下一步的工艺改进。在N+型4H-SiC衬底上生长掺杂浓度(ND)为1.0×1015 cm-3,厚度为50μm的N-外延层,并采用本实验室开发的SiC JFET工... 介绍了一种常开型高压4H-SiC JFET的仿真与制造工艺。通过仿真对器件结构和加工工艺进行优化,指导下一步的工艺改进。在N+型4H-SiC衬底上生长掺杂浓度(ND)为1.0×1015 cm-3,厚度为50μm的N-外延层,并采用本实验室开发的SiC JFET工艺进行了器件工艺加工。通过测试,当栅极偏压VG=-6V时,研制的SiC JFET可以阻断3 000V电压;当栅极偏压VG=7V、漏极电压VD=3V时,正向漏极电流大于10A,对应的电流密度为100A/cm2。 展开更多
关键词 4HSiC 垂直场效应晶体管 刻蚀
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Maxim新推升压型转换器
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《电子产品世界》 2005年第05A期139-139,共1页
Maxim新近推出的MAX8727.可为有源矩阵LCD(AMLCD)提供高压模拟电源。MAX8727的高性能电流模式、固定频率、脉宽调制电路,配合内置N沟道MOSFET,可实现较高的效率和快速响应。较高的开关频率便于滤波,可获得快速环路性能。一个外部补... Maxim新近推出的MAX8727.可为有源矩阵LCD(AMLCD)提供高压模拟电源。MAX8727的高性能电流模式、固定频率、脉宽调制电路,配合内置N沟道MOSFET,可实现较高的效率和快速响应。较高的开关频率便于滤波,可获得快速环路性能。一个外部补偿引脚可用来灵活设置环路的动态特性。这样,用户就可选用小尺寸、低ESR的陶瓷电容。 展开更多
关键词 MAXIM 转换器 升压 脉宽调制电路 MOSFET 模拟电源 有源矩阵 电流模式 固定频率 快速响应 开关频率 环路性能 动态特性 外部补偿 陶瓷电容 N 小尺寸 ESR 内置 滤波 引脚
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高可靠性Cu BCE a-IGZO TFTs的制作(英文)
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作者 王晓 葛世民 李珊 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2018年第11期925-930,共6页
背沟道刻蚀型(BCE)非晶氧化铟镓锌薄膜晶体管(a^-IGZO TFT)具有工艺简单、寄生电容小以及开口率高等优点,但BCE IGZO器件背沟道易受酸液和等离子体损伤,进而引起TFT均匀性和稳定性等方面问题,随着GOA技术的导入,对TFT器件电学性能的均... 背沟道刻蚀型(BCE)非晶氧化铟镓锌薄膜晶体管(a^-IGZO TFT)具有工艺简单、寄生电容小以及开口率高等优点,但BCE IGZO器件背沟道易受酸液和等离子体损伤,进而引起TFT均匀性和稳定性等方面问题,随着GOA技术的导入,对TFT器件电学性能的均匀性和稳定性提升的要求也日益迫切,因此开发高信赖性BCE IGZO TFT是技术和市场的迫切要求。本文主要分析了基于IGZO的背沟道刻蚀型薄膜晶体管电学性质,通过优化钝化层材料,色阻材料以及GOA TFT结构等削弱因背沟道水汽吸附引起的器件劣化,偏压温度应力测试结果显示优化后的TFT展现了良好的稳定性——在80℃,栅极30V负向偏压条件下,2 000s的ΔV_(th)小于1V。最终,利用优化的IGZO TFT制作了215.9mm(85in)8K4K120Hz液晶显示器。 展开更多
关键词 刻蚀非晶氧化物薄膜晶体管 215.9mm(85in) 8K4K GOA
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