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沟道外形尺寸和工艺对低电压功率UMOSFET性能与可靠性的影响
1
《电子产品可靠性与环境试验》
2003年第2期66-66,共1页
关键词
沟道外形尺寸
电压功率
UMOSFET
可靠性
场效应晶体管
下载PDF
职称材料
题名
沟道外形尺寸和工艺对低电压功率UMOSFET性能与可靠性的影响
1
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2003年第2期66-66,共1页
关键词
沟道外形尺寸
电压功率
UMOSFET
可靠性
场效应晶体管
分类号
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
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1
沟道外形尺寸和工艺对低电压功率UMOSFET性能与可靠性的影响
《电子产品可靠性与环境试验》
2003
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