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利用泄漏瑞利波成像检测陶瓷表面缺陷
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作者 史亦韦 《材料工程》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第10期32-35,共4页
介绍了利用泄漏瑞利波成像检测陶瓷表面缺陷的方法,并通过实例讨论了采用高频聚焦探头激励泄漏瑞利波的特性以及泄漏瑞利波成像的规律。
关键词 超声检测 陶瓷 表面缺陷 泄漏瑞利波
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