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测试与最后工序之融合
1
作者
徐靖民
史泽棠
郑瑞盛
《电子与封装》
2005年第3期26-28,5,共4页
目前,半导体工业正以飞快速度不断发展变化。面对成本压力和新封装技术,制造业和设备供货商们在设备能力、工艺和自动控制方面持续不断地加以更新和改进。在测试与最后工序领域中,成功的自动化解决方案是使测试与最后工序相结合,即从根...
目前,半导体工业正以飞快速度不断发展变化。面对成本压力和新封装技术,制造业和设备供货商们在设备能力、工艺和自动控制方面持续不断地加以更新和改进。在测试与最后工序领域中,成功的自动化解决方案是使测试与最后工序相结合,即从根本上转变它的设计形式而大幅度提高效率。它不仅包括大量已封装好的独立组件及高平行性的测试系统,也包括合并高速的最后工序系统。
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关键词
测试
封装
测试与最后工序
自动化
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职称材料
题名
测试与最后工序之融合
1
作者
徐靖民
史泽棠
郑瑞盛
机构
ASM自动器材有限公司
出处
《电子与封装》
2005年第3期26-28,5,共4页
文摘
目前,半导体工业正以飞快速度不断发展变化。面对成本压力和新封装技术,制造业和设备供货商们在设备能力、工艺和自动控制方面持续不断地加以更新和改进。在测试与最后工序领域中,成功的自动化解决方案是使测试与最后工序相结合,即从根本上转变它的设计形式而大幅度提高效率。它不仅包括大量已封装好的独立组件及高平行性的测试系统,也包括合并高速的最后工序系统。
关键词
测试
封装
测试与最后工序
自动化
Keywords
Test Packaging Test and Finish Automation
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
测试与最后工序之融合
徐靖民
史泽棠
郑瑞盛
《电子与封装》
2005
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