一种将测试集嵌入到Test-per-Clock位流中的方法

集成电路测试方案的关键在于测试向量产生器的设计.传统的测试方法在测试向量生成、测试应用的过程中,没有充分利用测试数据位流来构建测试向量,从而造成了测试时间和存储开销的增加.为了减少测试成本,提出了一种基于test-per-clock模式的内建自测试方法.通过对线性移位测试结构的分析,提出了一种递进式的反复测试生成方法:顺序求解输入位流,逆向精简,多次求解以获得更优值,最终将测试集以较小的代价嵌入到test-per-clock位流中.在测试应用时,只需存储求解后的最小输入流,通过控制线性移位的首位从而生成所需的测试集.实验结果表明,在达到故障覆盖率要求的前提下,能显著地减少测试应用时间和存储面积开销.