基于马尔可夫决策模型的测试向量排序新方法

时延测试向量排序是降低测试功耗的有效技术。提出了基于马尔可夫决策模型的时延测试向量排序新方法。对时延测试向量进行重排序,利用基于转换频度的诱导开关方程和海明距离来定义测试向量序列的转移概率,根据转移概率决定测试向量的顺序,降低测试电路的开关翻转频率,以达到降低峰值功耗和平均功耗的目的。给出了完整的算法TVO-MDP并进行算法最优性和复杂性分析。实验结果证实了本方法的有效性。

降低数字集成电路测试功耗的向量排序方法

研究了数字集成电路测试过程中的功耗问题,提出一种新的测试向量重排序方法,有效地减小了测试过程中电路状态的翻转次数。该方法根据电路结构和测试集的特征计算输入的影响度系数,定义加权海明距离,在不影响故障覆盖率的前提下,有效地降低了测试功耗。实验结果显示,经过该方法重排序后的测试集在测试过程中功耗平均降低48.07%,明显优于海明距离法。

组合电路桥接故障诊断的测试生成及优化

在利用划分等价类的方法来诊断组合电路中桥接故障的基础上,本文提出了一种基于门特性的IDDQ测试集生成算法及对测试集排序筛选的优化方法。实验结果表明,将此方法应用于组合电路桥接故障的诊断可缩减测试集的大小,提高诊断的故障覆盖率。

一种集成电路测试流程分级动态调整方法

针对集成电路测试过程中测试时间长,影响测试效率的问题,提出了一种集成电路测试流程分级动态调整方法.通过统计样本集成电路中每种测试类型和每条测试向量的测试故障率来建立贝叶斯概率模型,根据其命中故障点的概率高低分级调整它们的加载顺序.随着测试的进行,不断收集测试数据,动态更新测试类型和测试向量的测试故障率,同步调整测试类型以及测试向量的加载顺序.实验表明,使用动态调整后的测试流程可以更早的发现故障电路,显著减少故障电路的测试时间,提高测试效率.本算法是完全基于软件的,不需要增加硬件开销,可以相容于传统的集成电路测试流程.

基于扫描链修改的低功耗测试方案

芯片测试过程中存在的高功耗问题是制约芯片测试发展的难题,针对此问题,提出一种新的低功耗测试方法。该方法通过插入异或门,将扫描链中的部分D触发器用T触发器代替,同时采用遗传算法对测试结构进行修改和测试向量重排序,为了保证故障覆盖率和故障仿真的正确性,对测试数据进行转换,从而降低由于节点电压跳变所导致的电平翻转次数,达到降低测试功耗的目的。根据部分ISCSAS 89基准电路的实验结果表明:该方法符合预期目标,平均功耗相对于未采用该方法前降低51.26%。