期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路的生成系统
被引量:
2
1
作者
侯立刚
杨扬
+2 位作者
叶彤旸
彭晓宏
耿淑琴
《现代电子技术》
北大核心
2017年第24期5-8,共4页
提出一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路生成系统,并以IBM-PLACE测试基准电路为测试试例做了转换实验,提供一套3D测试基准电路。通过此系统,可以根据输入文件的不同,自动转换为对应的Bookshelf库文件或者DEF库文件,实现物理设计...
提出一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路生成系统,并以IBM-PLACE测试基准电路为测试试例做了转换实验,提供一套3D测试基准电路。通过此系统,可以根据输入文件的不同,自动转换为对应的Bookshelf库文件或者DEF库文件,实现物理设计库中的电路的互联线网连接信息,标准单元尺寸、端口信息,标准单元坐标信息以及布局信息自动转换。可以将任意2D电路设计转换为3D测试基准电路,并且兼容2D集成电路的物理设计流程,可在传统物理设计EDA工具中布局布线。最终,可以实现自定制的3D测试基准电路。
展开更多
关键词
DEF库
Bookshelf库
测试基准电路
自定制
3D集成
电
路
下载PDF
职称材料
系统芯片测试调度模型及其调度算法
2
作者
陈新武
牟光臣
柳青梅
《信阳师范学院学报(自然科学版)》
CAS
北大核心
2008年第2期294-296,300,共4页
系统芯片的设计是基于IP核的设计,整个芯片的测试包括各个IP核和粘合逻辑的测试.根据测试基准模型ITC02建立了系统芯片测试调度模型,该模型假定系统芯片的每个模块有若干个可供选择的测试资源,已知使用每个测试资源所完成该测试的时间...
系统芯片的设计是基于IP核的设计,整个芯片的测试包括各个IP核和粘合逻辑的测试.根据测试基准模型ITC02建立了系统芯片测试调度模型,该模型假定系统芯片的每个模块有若干个可供选择的测试资源,已知使用每个测试资源所完成该测试的时间和功耗.在最大功耗约束下,提出了一种通用的测试调度算法,并针对构造的基准电路,给出了该调度算法的实现结果.
展开更多
关键词
系统芯片
调度算法
测试
资源
IP核
ITC02
测试基准电路
下载PDF
职称材料
题名
一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路的生成系统
被引量:
2
1
作者
侯立刚
杨扬
叶彤旸
彭晓宏
耿淑琴
机构
北京工业大学电子信息与控制工程学院
出处
《现代电子技术》
北大核心
2017年第24期5-8,共4页
基金
北京市自然科学基金(4152004)
国家自然科学基金(61204040)
文摘
提出一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路生成系统,并以IBM-PLACE测试基准电路为测试试例做了转换实验,提供一套3D测试基准电路。通过此系统,可以根据输入文件的不同,自动转换为对应的Bookshelf库文件或者DEF库文件,实现物理设计库中的电路的互联线网连接信息,标准单元尺寸、端口信息,标准单元坐标信息以及布局信息自动转换。可以将任意2D电路设计转换为3D测试基准电路,并且兼容2D集成电路的物理设计流程,可在传统物理设计EDA工具中布局布线。最终,可以实现自定制的3D测试基准电路。
关键词
DEF库
Bookshelf库
测试基准电路
自定制
3D集成
电
路
Keywords
DEF library
Bookshelf library
testing benchmark circuit
self-customization : three-dimensional integrated circuit
分类号
TP311.56 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
下载PDF
职称材料
题名
系统芯片测试调度模型及其调度算法
2
作者
陈新武
牟光臣
柳青梅
机构
信阳师范学院物理电子工程学院
河南机电高等专科学校电子信息工程系
华中科技大学图像识别与人工智能研究所IC设计中心
出处
《信阳师范学院学报(自然科学版)》
CAS
北大核心
2008年第2期294-296,300,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(90207020)
文摘
系统芯片的设计是基于IP核的设计,整个芯片的测试包括各个IP核和粘合逻辑的测试.根据测试基准模型ITC02建立了系统芯片测试调度模型,该模型假定系统芯片的每个模块有若干个可供选择的测试资源,已知使用每个测试资源所完成该测试的时间和功耗.在最大功耗约束下,提出了一种通用的测试调度算法,并针对构造的基准电路,给出了该调度算法的实现结果.
关键词
系统芯片
调度算法
测试
资源
IP核
ITC02
测试基准电路
Keywords
SoC
test scheduling algorithm
test resource
IP core
ITC02 test benchmarks circuits
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路的生成系统
侯立刚
杨扬
叶彤旸
彭晓宏
耿淑琴
《现代电子技术》
北大核心
2017
2
下载PDF
职称材料
2
系统芯片测试调度模型及其调度算法
陈新武
牟光臣
柳青梅
《信阳师范学院学报(自然科学版)》
CAS
北大核心
2008
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部