期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
半导体芯片测试成本降低方案
1
作者
李华
《电子世界》
2012年第12期32-33,共2页
随着电子产品日新月异的发展,在产品品质提高同时,产品价格的下降也越来越被消费者重视。为了降低电子产品的价格,首先需要降低核心芯片的生产成本。测试费用是生产成本的重要组成,其中测试平台的成本直接影响测试费用。本文着重叙述如...
随着电子产品日新月异的发展,在产品品质提高同时,产品价格的下降也越来越被消费者重视。为了降低电子产品的价格,首先需要降低核心芯片的生产成本。测试费用是生产成本的重要组成,其中测试平台的成本直接影响测试费用。本文着重叙述如何用低成本测试平台(v50)实现高成本测试平台(J750)的功能,进而实现测试成本的降低。
展开更多
关键词
电子产品
芯片
测试
平台
(
v
50
J7
50
)
成本降低
下载PDF
职称材料
题名
半导体芯片测试成本降低方案
1
作者
李华
机构
寰鼎集成电路(上海)有限公司
出处
《电子世界》
2012年第12期32-33,共2页
文摘
随着电子产品日新月异的发展,在产品品质提高同时,产品价格的下降也越来越被消费者重视。为了降低电子产品的价格,首先需要降低核心芯片的生产成本。测试费用是生产成本的重要组成,其中测试平台的成本直接影响测试费用。本文着重叙述如何用低成本测试平台(v50)实现高成本测试平台(J750)的功能,进而实现测试成本的降低。
关键词
电子产品
芯片
测试
平台
(
v
50
J7
50
)
成本降低
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
半导体芯片测试成本降低方案
李华
《电子世界》
2012
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部