期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
时延故障低成本单跳变测试序列生成器(英文)
1
作者
杨德才
谢永乐
陈光
《四川大学学报(工程科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期166-171,共6页
为了避免时延故障测试因额外测试器插入导致过高的硬件成本和性能降低,本文提出了一种内建自测试测试向量生成器设计。该方案通过对累加器结构作低成本的设计改进,并通过一种高效的单跳变序列生成算法设计了时延故障测试序列生成器。该...
为了避免时延故障测试因额外测试器插入导致过高的硬件成本和性能降低,本文提出了一种内建自测试测试向量生成器设计。该方案通过对累加器结构作低成本的设计改进,并通过一种高效的单跳变序列生成算法设计了时延故障测试序列生成器。该设计改动微乎其微,通过将原有加法单元替换为一种改进的加法单元,对加法器原有关键通路无任何额外的时延影响。该累加器可执行通常的累加运算,在测试时又可担当测试器。与以往的方法相比,具有两个显著优点:低的硬件成本及低的时间开销。由于累加器在VLSI电路中普遍存在,本文的复用设计节省硬件成本,可有效用于强健时延故障的测试序列生成。
展开更多
关键词
内建自
测试
时延故障
测试
测试序列生成器
双向量
测试
下载PDF
职称材料
题名
时延故障低成本单跳变测试序列生成器(英文)
1
作者
杨德才
谢永乐
陈光
机构
电子科技大学自动化工程学院
出处
《四川大学学报(工程科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期166-171,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(90407007)
文摘
为了避免时延故障测试因额外测试器插入导致过高的硬件成本和性能降低,本文提出了一种内建自测试测试向量生成器设计。该方案通过对累加器结构作低成本的设计改进,并通过一种高效的单跳变序列生成算法设计了时延故障测试序列生成器。该设计改动微乎其微,通过将原有加法单元替换为一种改进的加法单元,对加法器原有关键通路无任何额外的时延影响。该累加器可执行通常的累加运算,在测试时又可担当测试器。与以往的方法相比,具有两个显著优点:低的硬件成本及低的时间开销。由于累加器在VLSI电路中普遍存在,本文的复用设计节省硬件成本,可有效用于强健时延故障的测试序列生成。
关键词
内建自
测试
时延故障
测试
测试序列生成器
双向量
测试
Keywords
BIST
delay fault testing
test pattern generator
two-pattern testing
分类号
TP301 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
时延故障低成本单跳变测试序列生成器(英文)
杨德才
谢永乐
陈光
《四川大学学报(工程科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部