期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管电学法热阻测试中测试电流的研究
1
作者
吕贤亮
黄东巍
+1 位作者
周钦沅
李旭
《电气技术》
2020年第8期28-32,39,共6页
本文针对垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件电学法热阻测试的关键参数——测试电流的影响因素进行研究,测试电流选择恰当与否是热阻测试的先决条件。通过理论分析和三款典型垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件的...
本文针对垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件电学法热阻测试的关键参数——测试电流的影响因素进行研究,测试电流选择恰当与否是热阻测试的先决条件。通过理论分析和三款典型垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件的试验验证,得出一种通过测试电流自升温、测试延迟时间及校温曲线这3个方面有效确定垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件电学法热阻测试时测试电流的方法。
展开更多
关键词
垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件
电学法热阻
测试
电流
测试延迟时间
校温曲线
下载PDF
职称材料
题名
垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管电学法热阻测试中测试电流的研究
1
作者
吕贤亮
黄东巍
周钦沅
李旭
机构
中国电子技术标准化研究院基础产品研究中心
出处
《电气技术》
2020年第8期28-32,39,共6页
文摘
本文针对垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件电学法热阻测试的关键参数——测试电流的影响因素进行研究,测试电流选择恰当与否是热阻测试的先决条件。通过理论分析和三款典型垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件的试验验证,得出一种通过测试电流自升温、测试延迟时间及校温曲线这3个方面有效确定垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件电学法热阻测试时测试电流的方法。
关键词
垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件
电学法热阻
测试
电流
测试延迟时间
校温曲线
Keywords
vertical double-diffused metal oxide semiconductor(VDMOS)device
electrical thermal resistance
measuring current
measurement delay time
thermal calibration factor
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管电学法热阻测试中测试电流的研究
吕贤亮
黄东巍
周钦沅
李旭
《电气技术》
2020
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部