基于改进熵权的属性综合评价模型在雷达BIT测试性能评估中的应用

针对目前雷达装备BIT缺乏全面有效的测试性综合评价的问题,提出基于属性综合评价法的雷达BIT测试性综合评价模型。首先建立雷达装备BIT测试特性指标,然后以熵权系数法修正层次分析法的权重为基础,应用属性综合评价系统对某型雷达装备BIT系统进行建模分析,得到综合评价结果,对雷达BIT测试性评估研究具有参考价值。

蝴蝶兰主要数量性状DUS测试性能研究

探讨蝴蝶兰数量性状的测试性能,有利于提高测试准确性和测试效率。本研究通过种内稳定性、种间差异性、R型聚类分析以及性状相关性分析,对蝴蝶兰20个主要数量性状的测试性能进行分析。结果表明,蝴蝶兰不同数量性状的种内变异系数在5.07%~22.50%之间,Char4(花序长度)、Char5(花序花数量)、Char6(花序梗长度)等3个性状在种内表现不够稳定。不同数量性状的种间变异系数在8.22%~45.31%之间,Char3(叶片宽度)、Char7(花序梗粗度)、Char14(唇瓣中裂片长度)、Char17(叶片厚度)、Char18(合蕊柱长度)、Char19(合蕊柱粗度)等6个性状的种间区分能力较弱;通过性状的R型聚类分析和相关性分析表明,Char8(花朵长度)、Char9(花朵宽度)、Char10(萼片长度)、Char11(萼片宽度)、Char12(花瓣长度)与Char13(花瓣宽度)均呈极显著相关性,且相关系数均大于0.9。因此,Char17(叶片厚度)、Char18(合蕊柱长度)、Char19(合蕊柱粗度)在蝴蝶兰测试指南中作为选测性状是合理的。Char3(叶片宽度)、Char7(花序梗粗度)、Char14(唇瓣中裂片长度)、Char11(萼片宽度)、Char13(花瓣宽度)等5个性状可由必测性状调整为选测性状。Char4(花序长度)、Char5(花序花数量)、Char6(花序梗长度)等性状的种内稳定性可能与催花条件有关。

关于提高称重法水蒸气透过率测试设备测试性能的分析

称重法是进行材料水蒸气透过率的基础测试方法，也是历史最悠久、应用最广泛的一种测试方法。称重法所包含的几种测试方法（例如增重法、减重法等）最初都需要人工操作来完成测试，相关仪器的自动化程度都很低，追求高效率和多功能性一直是设备研发的主要方向。

捷联惯组测试性能分析评估技术研究

捷联惯组测试性能分析评估以捷联惯组加速度计位置标定静态误差模型为基础,建立了捷联惯组安装误差模型,分析位置标定原始数据,从而分离惯组与转台之间的安装误差,以评估捷联惯组的测试性能,确保捷联惯组的测试精度及测试结果的可信度。该技术作为"惯组性能分析评估系统"的重要组成部分得到了验证和应用。

如何提高频谱分析仪测试性能的方法研究

频谱分析仪是现代微波测量的重要工具，不仅用于测量各种信号的频谱，还可测量功率、失真、增益和噪声特性等。但是由于被测信号不尽相同，因此在不同的测试环境和测试要求下，需要对频谱分析仪进行最佳的设置才能充分发挥其性能，从而获得最佳的测试数据。

三种二氧化氯比色计测试性能的对比试验

用DR/85 0 ,GDY - 10 1和QYJ型三种比色计及 72 30型分光光度计分别对水中不同浓度的ClO2 进行了检测。结果表明 :三种比色计及 72 30型分光光度计的测定结果相互间无显著性差异 (P >0 0 5 )。经过比较 ,GDY - 10 1型比色计具有体积小、重量轻、结构简单、操作方便、价格低等优点 ,更适合于ClO2

高压介损仪测试性能试验研究

为加强安徽电网试验用高压介损仪的管理，保证我省高压计量量值传递的统一，对送检的使用量较大的国产各种型号高压介损仪进行了较全面的试验研究，并提出了使用结论。

PXI总线机车测试性能系统的设计与实现

本文简要介绍了虚拟仪器技术的核心PXI总线和LabVIEW,并以这两种技术为基础设计和实现了一种新型机车性测试系统,给出了系统测试原理方案和软硬件结构。该测试系统采用了程控硬件校准技术以及合理的软件算法从而达到了较高的测试精度,降低了机车性能测试系统的成本,并且能够很好的满足各种类型机车的性能测试要求。

水稻DUS测试数量性状的测试性能分析

利用22个水稻品种的DUS测试数据,通过稳定性和关联性分析,探讨11个DUS数量性状的测试性能。结果表明,各性状变异系数为4.87%~20.69%。剑叶宽度（C5）、穗长度（C6）、谷粒长度（C8）、谷粒宽度（C9）、糙米长度（C10）、糙米宽度（C11）的变异系数均低于10%,稳定性较高;其余5个性状变异系数超过10%,稳定性较低。性状间相关性差异较大,相关系数为-0.56%~0.978%。其中,糙米长度（C10）和糙米宽度的（C11）的相关性最高,r=0.978;谷粒长度（C8）和糙米长度（C10）及谷粒长度（C8）和糙米宽度（C11）次之,相关系数分别为0.955和0.938;谷粒宽度（C9）和糙米长度（C10）、谷粒宽度（C9）和糙米宽度（C11）及谷粒长度（C8）和谷粒宽度（C9）的关联性较高,相关系数为0.870、0.876和0.853,都在a=0.01水平上显著相关。而倒数第二叶叶片长度（C1）和谷粒宽度（C9）以及倒数第二叶叶片长度（C1）和糙米宽度（C11）的相关性最差,相关系数仅为r=-0.56。各测试性状与其它10个测试性状的平均相关系数为-0.1259~0.1345。性状关联性与稳定性较为一致,与其它测试性状相关性高的性状,稳定性也较高。谷粒长度（C8）、糙米宽度（C11）、糙米长度（C10）、谷粒宽度（C9）和剑叶宽度（C5）变异系数〈10%,为4.87%~7.81%,与其它性状的相关系数为0.1345~0.0876,测试性能强,可以作为DUS测试的必测性状。判断性状的测试性能时,稳定性和与其它性状的关联性两者均好的性状测试性能强;对于稳定性和关联性不一致的性状,应偏重考虑稳定性,稳性好的性状测试性能较强。《指南》把剑叶宽度（C5）列为必测性状是合理的。在现有基础上,可考虑把谷粒长度（C8）、糙米宽度（C11）、糙米长度（C10）和谷粒宽度（C9）4个性状增列为必测性状,以增强《指南》的科学性。鉴于稳定性好,把穗长度（C6）列入必测性状具有合理性。剑叶长度（C4）虽然与其它性状的相关性较高,但稳定性不够好,考虑列入补充性状较为恰当。

反力式制动试验台的测试性能

本文通过对两种状态下汽车在反力式制动试验台上的受力分析，推导出制动力、滚筒支承反力的精确解析表达式；定量分析了试验台的最大测试能力；定量阐述了非测试轮与地面的附着率、安置角α、轴荷分配系数K对测试性能的影响。

高温暴露对索力监测用胶接植入光纤光栅传感器的测试性能影响研究

高温暴露是桥梁缆索索力监测用胶接固定的光纤光栅传感器测试准确、可靠性的关键影响因素。为了了解高温暴露对缆索索力监测用胶接植入光纤光栅传感器测试性能影响,将胶接于缆索钢丝上的光纤光栅传感器进行高温暴露测试(80℃)、循环加卸载测试以及剪切性能测试,进而分析、讨论高温暴露对光纤光栅传感器的测试性能影响。结果发现:在钢丝承载较小时,高温暴露后胶接于钢丝上的光纤光栅传感器载荷-波长关系的斜率明显小于承载较大时;且在钢丝承载较大时,高温暴露导致载荷-波长关系下移而明显处于未暴露的下方,这主要是由光纤光栅在应力(预张)和温度作用下的应力松弛和钢丝的力学性能变化导致。

HPL测试性能仿真与预测

HPL是大规模并行系统广泛采用的Linpack测试软件包.在HPL程序算法分析和实践测试的基础上,发掘了理论确定矩阵分块大小NB的规律,突破了长期以来对尝试性实验的依赖.进而将算法复杂性的估算提升到测试程序执行时间的精度,并建立HPL测试仿真模型,对执行时间进行更细致的评估.同时,在大量真实测试验证的基础上,利用该模型对各种系统性能提高因素将带给Linpack测试的益处进行预见,期望为体系的改进方向提供参考.

测试性能估算的测试集重排序方法

目前在集成电路测试中,测试时间长、测试效率低是影响测试成本的关键问题之一,针对此问题提出了一种基于测试性能估算的测试集重排序方法。首先针对不同的故障类型进行分类建模,然后对每种故障类型进行仿真,通过在每个逻辑门注入故障,统计测试向量命中故障门的面积之和来估算测试向量的测试性能,最后根据测试性能的优劣对测试集进行重新排序。实验表明,对于单固定故障使用排序后的测试集测试可以减少53.29%的故障检测时间。该方法是通过对电路的逻辑结构进行分析和统计然后对测试集进行优化,对ISCAS 89标准电路进行试验,与其他测试集重排序对比,有着明显的优化。算法运行完全是基于软件的,不需要增加任何硬件开销,可以直接相容于传统的集成电路测试流程。

WCA无线通讯分析仪可满足3G测试性能分析的需求

本文主要对WCA无线通讯分析仪3G测试性能进行分析,同时与其他相近测试仪器进行了比较对WCA的在无线通讯研发中的优缺点也进行了分析,可以作为3G无线通讯测试的工作参考。

台达AB伺服为试验机提升精准测试性能

随着我国生产制造水平的不断提高和测试技术的飞速发展，以及近年来铁路、高速公路等各行业的高速增长，极大地拉动了对工业试验机的需求。另外，各类计量机构也是各类试验机的一大用户，职业教育的突飞猛进则更是加大了试验机的需求。

NI TestStand 4．1利用多核技术支持加速并行测试性能

2008年6月，美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）发布了新版本的测试管理软件NI TestStand 4．1，可以帮助工程师们利用多核处理器的支持开发更高速的测试系统。当制造商们开始采用多核处理器以实现更好的性能同时，运行于这些新型处理器之上的NI TestStand 4．1可以提供功能更为强大的系统和更高的测试系统吞吐量。利用新推出的NI Switch Executive 3．0软件，开发人员可以通过图形化方式设置开关阵列信号路径，在NI TestStand中更为快速地开发并行测试系统。

美国国家仪器将领先的PXI RF测试性能扩展至14GHz

美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）发布了NI PXIe-5665高性能RF矢量信号分析器（VSA）的14 GHz版本。该新型VSA拥有高性价比的PXI组成结构,达到同类仪器的最佳动态范围和精度,并具备业界领先的相位噪声和动态范围除了它的组成结构之外，它还拥有传统堆叠式箱式仪器的性能。

NI TestStand 4.1利用多核技术支持加速并行测试性能

2008年6月——美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）近日发布了最新版本的测试管理软件NI TestStand4.1.该软件现在可以帮助工程师们利用多核处理器的支持开发更高速的测试系统。当制造商们开始采用多核处理器以实现更好的性能同时，运行于这些新型处理器之上的NITestStand4．1可以提供功能更为强大的系统和更高的测试系统吞吐量。

NI推出更高性价比的可应用于高性能USB数据采集的CompactDAQ机箱——NI cDAQ-9174和cDAQ-9178机箱为四槽和八槽机箱提供了更高效的混合传感器测试性能

NI近日推出最新款NICompactOAQ机箱——cDAQ-9174四槽盒cDAQ-9178八槽CompactDAQ机箱。