基于MBSE的微波统一测控系统测试性设计

针对当前微波统一测控系统研制中存在的测试性要求宽松、测试性设计模式落后的问题,通过综合权衡可靠性、维修性和保障性的各项要求和约束条件,确定了微波统一测控系统的测试性定量要求,并对开展测试性定量设计和验证的可行性进行了论证;采用系统工程设计思想,将测试性设计和功能设计融合,构建了基于模型的系统工程(Model-based Systems Engineering,MBSE)的测试性设计环境和设计流程,可为微波统一测控系统在数字化研制过程中开展测试性设计和仿真验证提供参考。

考虑噪声抗扰特性的配电系统可测试性设计研究

基于MOSFET的电力电子系统具备高可靠性的要求,故需要一种高精度的故障诊断方法。但实际产品中存在信号噪声严重、一致性差等不完善的情况,常规的故障诊断方法难以准确识别故障。为此,本文提出一种基于仿真的考虑抗噪性的批量产品测试性设计方法,首先通过FMEA确定元器件的软故障、硬故障模型,构建电路仿真模型;然后进行故障注入仿真,构造依赖矩阵,通过提取不同类型信号的抗噪特性,选择和优化测试点方案;最后以某供电所配电系统为例进行测试性设计方法研究,通过仿真和实验验证评估测试点的有效性。

航空机载综合控制管理设备的测试性设计研究

分析了开展航空机载设备测试性设计的目的和意义,对设备的测试性设计流程、设计方法、试验验证和指标评估等方法进行了探讨。首先,具体描述了机载设备的BIT设计方法;其次,对典型功能电路采用的BIT方法和复杂电子器件采用的边界扫描测试性设计进行了介绍,肯定了测试性试验对装备测试性指标评估的作用;然后,对测试性设计中常见问题提出了解决措施;最后,指出装备应持续改进测试性设计以达成用户要求。

SOC可测试性设计与测试技术

超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩／解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向.

装备测试性设计与维修诊断一体化关键技术研究

针对目前复杂电子装备设计制造与维修保障中存在的信息脱钩问题,提出了装备测试性设计与维修诊断一体化思想;该研究着眼于装备全寿命周期内信息的共享,提出装备信息模型,通过构建装备全寿命周期可通用的数据知识库,应用人工智能的算法,使装备寿命周期内的各项工作相互支援、相互影响,形成一个闭环的信息网络,最终实现设计制造与维修的一体化;作为一种并行工程的设计方法,该思想适应了装备信息化发展的要求,对提高装备测试与维修保障能力具有重要意义。

基于结构模型的测试性设计与分析技术研究

为了解决因系统信息获取困难导致装备早期测试性设计和维修诊断工作难度增加的问题,提出了一种基于系统结构模型的测试性设计与分析方法。该方法借助图论的数学工具对系统进行数学建模,通过定量分析完成系统的模块划分;在此基础上,建立测试相关性矩阵,以最小测试代价为优化目标函数,应用Huffman信息编码方法生成系统的故障诊断树。与其他方法相比,该方法不仅结果更加优化,而且对系统的内部信息依赖相对较少,可以有效应用于设备的早期测试性设计以及使用过程中的维修诊断工作。

可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用

可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(ScanDesign)、存储器内建自测试(Build-in-self-test,简称BIST)以及与IEEE1149.1标准兼容的边界扫描设计(BoundaryScanDesign,简称BSD)等技术。这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。

装备测试性设计关键技术研究

从CAD的发展入手,对电子装备测试性设计技术进行分析和总结。依照“并行工程”的思想,给出了装备测试性智能设计系统的层次结构和模型,阐述了测试性设计与装备其他设计属性的关系,最后从知识的表示方法、知识的获取途径和知识的应用三个方面对实现测试性智能设计的关键技术进行了研究。

基于混合诊断模型的复杂系统测试性设计与分析

测试性设计的关键是要寻求一种良好的测试性模型。混合诊断模型是一种将功能模型和故障模式模型建立在一个系统模型中测试性设计与分析模型,它通过对测试的定义,有效地描述了测试、故障模式和功能三者之间的关系。并且,该模型已经在DSI公司的eXpress软件中得到实现。最后,应用放大器实例,在eX-press软件中进行混合诊断建模,通过诊断学习,得到诊断策略和测试性设计的指标,验证了模型的有效性。事实证明,混合诊断模型是一种有效的测试性模型。

SoC的可测试性设计技术

基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点 ,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案 :IEEEP15 0 0和虚拟插座接口联盟 (VSIA)测试访问结构 .

装备电子设备边界扫描系列标准及测试性设计技术研究

随着新一代电子产品的复杂化和密集程度的不断提高,电路和系统的可测试性急剧下降,传统测试技术已经不能满足需要;针对我国军用电子设备的测试及诊断工作需求,通过对IEEE1149系列边界扫描测试标准进行了研究分析,分析各标准的特征范围、适用对象、各标准相互关系,可以分析梳理IEEE1149标准在我国军用电子设备测试性设计中的可行性和适用性,探索得到将边界扫描技术在测试性设计上的应用思路;将边界扫描技术应用于电子设备不同范围的测试设计,能有效地解决传统测试性设计的问题,能够提升诊断能力,缩减产品生产周期及研制费用。

基于弹上总线的导弹装备测试性设计方法

为克服传统测试方法在测试数字电路板时的技术障碍,提出基于弹上总线及边界扫描的弹上设备机内自测试设计方案。在介绍IM总线(module test and maintenance bus,TM Bus)和边界扫描的基础上,论述系统测试性设计的基本概念,搭建测试试验系统,并对系统测试性设计概念和主要考核指标进行演示、验证。结果表明:该设计能简化导弹的测试流程,提高导弹武器系统的可靠性、维修性和测试性。

“存储＋逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计

为了缩短硅通孔的测试时间,针对符合JESD229和IEEE1149.1边界扫描协议的"存储+逻辑"3D集成电路,提出一种硅通孔可测试性设计.首先在逻辑晶片上增加控制模块,用于控制存储晶片的边界扫描链;然后通过修改逻辑晶片上原有边界扫描链结构,实现串联和并联2种与存储晶片边界扫描链连接的模式;最后在逻辑晶片上增加寄存器,以保存测试过程所使用的配置比特,控制整体测试流程.实验数据表明,该设计仅比原有的IEEE1149.1边界扫描电路增加了0.4%的面积开销,而测试时间缩短为已有工作的1?6.

装备测试性设计辅助决策系统关键技术研究

针对测试性设计的辅助决策工具是装备测试性设计水平提高的关键技术。围绕测试性设计辅助决策系统实现,从装备测试性设计建模、装备测试性设计与分析优化算法、辅助决策系统实现等三个方面展开研究,在分析现有模型的基础上提出了用于测试性设计的信息模型建模思想,并对测试性设计过程中的诊断优化算法进行了研究,最后完成对测试性模型、诊断策略的集成,对系统平台实现的关键技术进行了研究。本研究是实现装备测试性设计辅助决策系统的关键。

可测试性设计中的优化问题及求解算法

近20年来,为了解决结构日益复杂的VLSI电路的测试问题,可测试性设计技术得到了迅速发展.在可测试性设计中,如何针对不同的对象及测试需求进行优化设计,以尽可能降低总体设计代价,是一个非常重要且亟待解决的问题.文章应用图论对可测试性设计中的两种典型优化问题进行了数学描述,并构造了相应的可行求解算法.

一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构

IEEE1149.1(也称JTAG)是支持芯片边界扫描的国际标准,提供了统一的测试访问端口。如今,它已成为芯片必不可少的一种“开销”。本文通过定制JTAG逻辑,以求用最少的开销,最简单灵活的方式来管理各种DFT逻辑。

复杂电子装备智能测试性设计技术

电子装备测试性设计技术的分析,从CAD的发展入手。依照“并行工程”的思想,建立装备测试性智能设计系统层次结构和模型。测试性智能设计的关键技术,包括知识表示方法、知识获取途径和知识应用三方面。

NRS4000微处理器的可测试性设计

现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度，又有寄存器堆、 Ｃａｃｈｅ等嵌入式部件，而且芯片管脚数相对较少，必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码，提高故障覆盖率。本文简要讨论了 Ｎ Ｒ Ｓ４０００ 微处理器芯片的以边界扫描测试为主体，以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍了芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器 Ｐ Ｌ Ａ 和微程序 Ｒ Ｏ Ｍ 以及采用内嵌 Ｒ Ａ Ｍ 结构的指令 Ｃａｃｈｅ 和寄存器堆的内建自测试设计。结果表明，这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。

软件测试性设计综述

软件测试性设计分为四类:设计时应当遵循的测试性设计原则,通过改变设计或代码提高软件测试性的专用测试性设计技术,为软件增加专门测试结构的结构化测试性设计技术和在软件开发全周期考虑软件测试的测试性设计综合技术。软件测试性设计方法借用了很多硬件测试性设计思想,但在许多方面还能进一步发展。

航天器可测试性设计研究

在调研国内外可测试性技术发展历程的基础上,分析中国航天器可测试性设计技术与国外的差距,探讨其发展的前提条件和规划方法,提出适合中国航天器的可测试性设计的技术实现途径.