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基于AVR单片机的边界扫描测试控制器设计 被引量:7
1
作者 陈圣俭 徐磊 徐毅成 《计算机测量与控制》 CSCD 2008年第5期632-633,662,共3页
根据边界扫描测试IEEE1149.1技术标准,采用AVR单片机以及边界扫描总线控制芯片74ACT8990设计了边界扫描测试控制器;该控制器通过串口与计算机通信,将计算机的指令转化为符合边界扫描标准的测试时序信号,注入被测板;并且采集被测板响应,... 根据边界扫描测试IEEE1149.1技术标准,采用AVR单片机以及边界扫描总线控制芯片74ACT8990设计了边界扫描测试控制器;该控制器通过串口与计算机通信,将计算机的指令转化为符合边界扫描标准的测试时序信号,注入被测板;并且采集被测板响应,送回计算机进行故障诊断;该测试控制器结构简单,使用方便而且成本低;通过实际测试验证,测试控制器产生的测试信号符合IEEE1149.1系列标准,可以用于功能测试、数字电路故障诊断以及边界扫描研究。 展开更多
关键词 AVR 边界扫描 JTAG 测试控制器
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基于AMBA协议的SoC测试控制器设计
2
作者 韩可 邓中亮 吕良 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第S1期146-149,152,共5页
阐述一种实现SoC功能验证的测试控制器设计方法。该测试控制器的行为符合AMBA2.0标准协议,可以完成对AM-BA总线上其他IP(intellectual property)核的功能验证。给出了在SoC内部利用该测试控制器测试ARM的集成方法,同时详细给出了该硬件... 阐述一种实现SoC功能验证的测试控制器设计方法。该测试控制器的行为符合AMBA2.0标准协议,可以完成对AM-BA总线上其他IP(intellectual property)核的功能验证。给出了在SoC内部利用该测试控制器测试ARM的集成方法,同时详细给出了该硬件电路的实现方法和应用测试语言编写测试向量的具体流程。分析了控制器外部测试向量产生原理,通过对ARM7TDMI的测试应用实例,说明了利用该测试控制器可以高效地完成系统功能测试。 展开更多
关键词 AMBA 系统芯片 功能验证 接口测试控制器
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仿真测试控制器在RBC仿真测试平台中的应用研究
3
作者 李丽兰 管伟军 《铁道通信信号》 2014年第2期8-10,共3页
仿真测试控制器是无线闭塞中心(Radio Block Center,简称RBC)仿真测试平台中的重要组成部分。它可以实现对平台中所有模块的监测、控制、数据配置和数据收集等辅助功能。仿真测试控制器是整个RBC仿真测试平台的总控模块,通过对仿真测试... 仿真测试控制器是无线闭塞中心(Radio Block Center,简称RBC)仿真测试平台中的重要组成部分。它可以实现对平台中所有模块的监测、控制、数据配置和数据收集等辅助功能。仿真测试控制器是整个RBC仿真测试平台的总控模块,通过对仿真测试控制器各项功能的详细介绍,体现出该控制器在RBC仿真测试平台中的灵活性及重要性。 展开更多
关键词 无线闭塞中心 仿真测试控制器 仿真测试平台
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穆格航空航天测试控制器 被引量:1
4
《航空制造技术》 2009年第18期105-105,共1页
优势 ·回路更新速率为2500Hz,可实现最大的响应,必要时可更高; ·优化的技术可更快、更精确地进行测试; ·虚拟通道能力满足最复杂的测试要求; ·分布式系统构架。
关键词 测试控制器 航空航天 分布式系统 更新速率 测试要求 虚拟通道
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基于USB2.0的边界扫描测试控制器的设计
5
作者 董涪鑫 颜学龙 《大众科技》 2012年第3期18-20,共3页
边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计方法,它用特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,深入研究了IEEE1149.1边界扫描标准,文章针对传统的边界扫描测试控制器的接口复杂度高,边界扫描测试控制器硬件复杂、成... 边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计方法,它用特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,深入研究了IEEE1149.1边界扫描标准,文章针对传统的边界扫描测试控制器的接口复杂度高,边界扫描测试控制器硬件复杂、成本高的缺点,提出了一种基于USB2.0接口的边界扫描测试控制器设计方案,设计USB接口电路及驱动程序;测试结果表明,该测试控制器产生的测试信号符合IEEE1149.1标准。同时该控制器具有硬件结构简洁,使用灵活,有较高的性价比的特点,有较好的应用前景。 展开更多
关键词 边界扫描测试控制器 IEEE1149.1 USB
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一种通用测试控制器的研究与设计 被引量:1
6
作者 宋惠 《铁路通信信号工程技术》 2019年第10期67-70,共4页
功能测试是信号产品生命周期中的重要阶段,而测试环境是功能测试的主要支撑,作为测试环境“大脑”的测试控制器在其中扮演着及其重要的角色,在既有测试控制器的基础上,研究设计一种新型通用测试控制器,使得信号产品功能测试的测试环境... 功能测试是信号产品生命周期中的重要阶段,而测试环境是功能测试的主要支撑,作为测试环境“大脑”的测试控制器在其中扮演着及其重要的角色,在既有测试控制器的基础上,研究设计一种新型通用测试控制器,使得信号产品功能测试的测试环境标准化、规范化。 展开更多
关键词 功能测试 测试环境 测试控制器
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穆格便携式测试控制器提供适用于复杂双轴向测试装置的先进功能
7
《现代仪器》 2010年第4期81-81,共1页
英国谢菲尔德大学与穆格深化合作,共同开发出具有材料应力与疲劳载荷双轴向测试所需高级功能的复杂控制回路系统,完成了Mayes双轴向拉压测试机的最新系统升级工作。
关键词 测试装置 高级功能 双轴向 测试控制器 便携式 回路系统 复杂控制 疲劳载荷
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基于USBTMC协议的多功能测试控制器设计
8
作者 张雷 冯永超 李卓明 《电子质量》 2022年第6期36-38,42,共4页
基于对当前电子信息系统装备自动测试过程中多功能、高效化自动控制需求的分析,提出了一种基于USBTMC协议的多功能测试控制器。可以作为独立控制设备或配合自动测试系统,实现被测件工作状态的自动控制和测试数据的高效读写。该文主要介... 基于对当前电子信息系统装备自动测试过程中多功能、高效化自动控制需求的分析,提出了一种基于USBTMC协议的多功能测试控制器。可以作为独立控制设备或配合自动测试系统,实现被测件工作状态的自动控制和测试数据的高效读写。该文主要介绍了多功能自动控制器的总体设计,并重点对各个硬件单元的设计以及USBTMC协议的实现进行了详细论述。该文所述基于USBTMC协议的多功能测试控制器通过在多型自动测试系统中的测试应用,可大幅提升测试程序开发和测试程序执行的效率,取得了良好的效益。 展开更多
关键词 USBTMC 测试控制器 自动测试
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测试维护总线(TM-BUS)控制器的设计与实现 被引量:1
9
作者 王卫东 康继昌 周耀荣 《西北工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第4期591-594,共4页
测试维护总线是机载计算机技术研究的难点和关键技术之一。简要介绍了测试维护总线TM- BUS(test and maintenance bus)及其应用 ,论述设计的 TM- BUS控制器的结构、实现及 TM-BUS控制管理机制。应用系统表明运行稳定 ,该芯片逻辑功能正... 测试维护总线是机载计算机技术研究的难点和关键技术之一。简要介绍了测试维护总线TM- BUS(test and maintenance bus)及其应用 ,论述设计的 TM- BUS控制器的结构、实现及 TM-BUS控制管理机制。应用系统表明运行稳定 ,该芯片逻辑功能正确 。 展开更多
关键词 机载计算机 测试维护总线 测试控制器 TM-BUS
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大规模芯片内嵌存储器的BIST测试方法研究
10
作者 葛云侠 陈龙 +3 位作者 解维坤 张凯虹 宋国栋 奚留华 《国外电子测量技术》 2024年第5期18-25,共8页
随着大规模芯片的块存储器(block random access memory,BRAM)数量不断增多,常见的存储器内建自测试(memory build-in-self test,Mbist)方法存在故障覆盖率低、灵活性差等问题。为此,提出了一种新的基于可编程有限状态机的Mbist方法,通... 随着大规模芯片的块存储器(block random access memory,BRAM)数量不断增多,常见的存储器内建自测试(memory build-in-self test,Mbist)方法存在故障覆盖率低、灵活性差等问题。为此,提出了一种新的基于可编程有限状态机的Mbist方法,通过3个计数器驱动的可编程Mbist控制模块和算法模块集成8种测试算法,提高故障覆盖率和灵活性。采用Verilog语言设计了所提出的Mbist电路,通过Modelsim对1 Kbit×36的BRAM进行仿真并在自动化测试系统上进行了实际测试。实验结果表明,该方法对BRAM进行测试能够准确定位故障位置,故障的检测率提高了15.625%,测试效率提高了26.1%,灵活性差的问题也得到了很大改善。 展开更多
关键词 大规模芯片 块存储器 存储器内建自测试 可编程存储器内建自测试控制器 故障覆盖率
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SOC测试调度控制器设计
11
作者 王帅 俞洋 付永庆 《应用科技》 CAS 2010年第10期44-47,共4页
在对SOC测试时,SOC测试结构的核心部分是测试访问机制(TAM)和测试调度控制器.文中设计了一种新颖的基于测试总线的SOC测试调度控制器.用户通过上位机给控制器发出指令,使IP核处于不同的测试模式,提高了测试的灵活性.控制器可以通过对测... 在对SOC测试时,SOC测试结构的核心部分是测试访问机制(TAM)和测试调度控制器.文中设计了一种新颖的基于测试总线的SOC测试调度控制器.用户通过上位机给控制器发出指令,使IP核处于不同的测试模式,提高了测试的灵活性.控制器可以通过对测试总线的配置实现多个IP核的并行测试,大大缩短测试时间.实验结果表明,该方案设计合理,可以高效地完成IP核的测试任务. 展开更多
关键词 测试结构 测试调度 测试访问机制 测试控制器
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基于ARM&CPLD分立器件测试主机总线控制器
12
作者 乔爱民 王艳春 戴敏 《微计算机信息》 2010年第14期108-110,共3页
本文介绍了一种基于ARM微处理器S3C44B0X和CPLD的分立器件测试主机系统总线控制器,此控制器用在基于总线架构的半导体分立器件测试系统中。在分析了半导体分立器件测试系统的组成、S3C44B0X的总线特点及测试系统对测试主机系统总线性能... 本文介绍了一种基于ARM微处理器S3C44B0X和CPLD的分立器件测试主机系统总线控制器,此控制器用在基于总线架构的半导体分立器件测试系统中。在分析了半导体分立器件测试系统的组成、S3C44B0X的总线特点及测试系统对测试主机系统总线性能要求后,通过CPLD的内部逻辑设计和相应的总线操作程序,完成了测试主机系统总线控制器的设计。 展开更多
关键词 ARM CPLD 分立器件测试系统 测试主机系统总线控制器
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封装热可靠性测试系统中的恒温控制器设计
13
作者 宋美杰 葛仁华 《桂林航天工业高等专科学校学报》 2012年第1期10-13,共4页
论文设计了在半导体器件热封装可靠性测试系统中使用的恒温控制器,该控制器可以使半导体器件所处的环境温度维持在某一恒定范围,以保证可靠性测试中的恒定加速应力需求。文中对整个恒温控制器进行了介绍,同时详细阐述了测温模块与升温... 论文设计了在半导体器件热封装可靠性测试系统中使用的恒温控制器,该控制器可以使半导体器件所处的环境温度维持在某一恒定范围,以保证可靠性测试中的恒定加速应力需求。文中对整个恒温控制器进行了介绍,同时详细阐述了测温模块与升温模块的电路设计,然后对控制器的运行情况进行测试,以验证其可行性。通过测试得出该恒温控制器具有良好的温度控制精度,可以满足半导体器件热封装可靠性测试系统的使用需求。 展开更多
关键词 恒温控制 测温模块 升温模块 控制器测试
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4G通信控制器在汽车电子控制器测试平台的设计与实现 被引量:1
14
作者 张卫德 《信息与电脑》 2022年第10期230-235,共6页
随着互联网的普及,4G通信的应用已经很广泛。然而,在汽车行业中4G通信技术才逐渐开发并应用在汽车电子4G通信控制器上,成为汽车和外界沟通的一个重要桥梁,实现大数据的实时上传下载,电话语音时时沟通;而在生产4G通信控制上必不能少的一... 随着互联网的普及,4G通信的应用已经很广泛。然而,在汽车行业中4G通信技术才逐渐开发并应用在汽车电子4G通信控制器上,成为汽车和外界沟通的一个重要桥梁,实现大数据的实时上传下载,电话语音时时沟通;而在生产4G通信控制上必不能少的一个环节就是要搭建4G通信控制器产品下线前(End of Line,EOL)测试系统。测试系统平台主要由硬件系统、平台化软件组成,能够实现对4G通信控制器整机电流和电池电压测试、音频测试、射频测试(内外天线测试等)、用户身份识别(Subscriber Identity Module,SIM)卡开卡测试、电子物流数据读写等测试。硬件系统主要由机器人、屏蔽箱、4G仪表、电源万用表、音频分析仪以及工业电脑等组成。平台化软件主要由Lab VIEW开发的电流测试模块、电池电压测试模块、音频测试模块、内置天线测试模块、2G/3G/4G外置天线测试模块、SIM卡开卡测试模块、电子物流数据读模写块、SIM卡数据读取模块、传制造执行系统(Manufacturing Execution System,MES)追溯模块等组成,在Teststand平台上实现灵活组合及应用并可持续扩展测试模块。软件还能实现三级分类管控,实现对数据参数调整及保护。软件显示界面覆盖有产品信息及模块化测试的数值、数据的统计信息等可配置的内容,真正实现了所有4G通信控制器的平台化软件测试。 展开更多
关键词 4G通信 EOL测试系统 模块化测试 TESTSTAND 汽车电子控制器测试
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基于IEEE1149.7的TAP控制器命令研究 被引量:4
15
作者 江坤 高俊强 《国外电子测量技术》 2013年第5期41-43,56,共4页
随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以... 随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以研究支持其的控制器命令对今后的发展具有重要的意义。本文在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,利用QuartusII开发平台设计了基于TAP控制器命令的测试控制器,并进行了仿真验证。结果表明产生的命令测试信号符合IEEE1149.7标准对TAP控制器命令的规定。 展开更多
关键词 IEEE 1149 7标准 TAP控制器命令 边界扫描 测试控制器
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USB—1149.1边界扫描控制器的设计与实现 被引量:2
16
作者 耿建平 陈林艳 尚玉玲 《计算机测量与控制》 北大核心 2014年第3期919-922,共4页
随着支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,边界扫描技术得到了迅速发展;根据该标准,提出了一种基于USB总线的边界扫描控制器的设计方案;该方案采用CY7C68013作为USB2.0接口控制器,JTAG主控单元使用测试总线控制器ACT8990;依据... 随着支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,边界扫描技术得到了迅速发展;根据该标准,提出了一种基于USB总线的边界扫描控制器的设计方案;该方案采用CY7C68013作为USB2.0接口控制器,JTAG主控单元使用测试总线控制器ACT8990;依据该方案设计的控制器能够完成USB协议和JTAG协议的相互转换,生成符合IEEE1149.1标准的测试信号;实验以内测试为例,验证该控制器能够正常工作;在此基础上进行了其他功能测试;实验结果表明,该控制器能够完成对数字电路的边界扫描测试,并能初步判断故障类型,具有测试方便、传输速度快等特点,提高了测试效率。 展开更多
关键词 JTAG 边界扫描 USB总线 测试总线控制器
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嵌入式高性能GPIB控制器 被引量:1
17
作者 王勇 吴旭文 张惊雷 《自动化仪表》 CAS 2005年第11期25-27,共3页
利用嵌入式系统与以太网控制芯片设计并实现了基于GPIB总线的自动测试系统(ATS)控制器。针对系统硬件完成了嵌入式实时操作系统(RTOS)、图形用户界面(GUI)的移植和测控软件的开发,并为远程控制管理提供Web服务功能。系统开放、灵活。
关键词 自动测试系统控制器 嵌入式实时操作系统 计算机控制 结构设计
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安时-卡尔曼交叉运行的电池荷电状态估算策略及其微控制器在环验证 被引量:2
18
作者 罗勇 阚英哲 +3 位作者 祝传美 赵小帅 祁朋伟 龙克俊 《高技术通讯》 北大核心 2017年第6期559-566,共8页
为了提高电池管理系统(BMS)的性能,研究了电池荷电状态(SOC)的估算方法,并根据SOC估算算法精度和系统实时性要求,提出了安时(AH)积分算法-卡尔曼(Kalman)算法(AH-Kalman)交叉运行的SOC估算策略。该策略用开路电压(OCV)法确定SOC初值,以... 为了提高电池管理系统(BMS)的性能,研究了电池荷电状态(SOC)的估算方法,并根据SOC估算算法精度和系统实时性要求,提出了安时(AH)积分算法-卡尔曼(Kalman)算法(AH-Kalman)交叉运行的SOC估算策略。该策略用开路电压(OCV)法确定SOC初值,以实时性较强的AH积分法为主,采用间歇运行的Kalman滤波法修正安时计量法积分误差。建立了系统仿真模型,验证了卡尔曼滤波算法对安时积分法积累误差的修正作用。将控制算法生成C代码下载到目标控制器,搭建微控制器在环测试验证(PILS)平台,进行了与传统卡尔曼滤波算法的复杂度对比分析。结果表明,所提出AHKalman交叉运行的SOC估算策略在保证了SOC估算精度的同时也具有较好的实时性,便于实际应用。 展开更多
关键词 电池荷电状态(SOC)估算算法 控制器在环测试 c代码生成 卡尔曼滤波法
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穆格测试技术为汽车行业提供精确控制
19
作者 张颖 《汽车与配件》 2010年第44期44-45,共2页
穆格是伺服阀技术的发明者,还有包括先进的测试控制器和软件,先进的液压和电动作动器等都已经在欧洲和北美广泛地应用在汽车实验室里面。
关键词 汽车行业 测试技术 精确控制 测试控制器 发明者 伺服阀 实验室 作动器
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基于IEEE1149.7标准的CJTAG测试设计方法研究 被引量:12
20
作者 陈寿宏 颜学龙 黄新 《电子技术应用》 北大核心 2013年第1期79-82,共4页
在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,针对测试问题设计了CJTAG测试控制器,实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行了仿真验证。结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定,能够控制待测芯片实现相... 在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,针对测试问题设计了CJTAG测试控制器,实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行了仿真验证。结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定,能够控制待测芯片实现相应的测试功能,取得了较好的测试效果。 展开更多
关键词 IEEE 1149 7 CJTAG 测试控制器 边界扫描
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