动态电路的混合时序分析方法

本文基于四事件周期波形模型,提出了一般动态门、LO-CMOS、NTP动态门和N-C2MOS锁存器正确工作的时序约束.将混合时序分析方法应用于动态电路的延时计算,提出了动态门延时测试波形的生成算法,能有效处理多个输入同时翻转对延时的影响.本文的研究成果已在SpiceTime中实现,并且应用于一个32位动态加法器的设计,取得了良好效果,如果不考虑伪路径的影响,求值延时和预充延时的最大误差分别为3.62%和8.26%.

考虑多输入同时翻转的晶体管级时序分析技术

为了克服现有延时模型所遇到的困难,本文对静态时序分析中通过晶体管级电路模拟来计算门延时的方法进行了研究,该技术的关键是延时测试波形的自动生成。文中分析了多输入同时翻转对最大门延时的影响,提出了一种可以用于测试波形生成的多输入同时翻转模型。基于该模型,提出了互补CMOS电路和传输管电路延时测试波形的生成算法。将模拟计算门延时的方法与晶体管级电路的功能模型提取技术结合在一起,实现了一个晶体管级电路的静态时序分析工具─SpiceTime。实验结果表明,SpiceTime的分析结果均大于HSPICE的模拟结果,而且误差不超过2.7%。Spice-Time的分析时间与电路大小成线性关系,单个门的平均分析时间约为0.3秒。实验结果表明,如果使用单信号翻转模型,最大延时最多可以被低估4.8%。