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检入管理CIMS系统中的集合覆盖问题SCP研究 被引量:1
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作者 方琼 邵瑾 《集成电路应用》 2018年第7期18-21,共4页
在图形处理芯片GPU芯片架构设计过程中,针对C-model源代码管理,设计了一套检入管理系统CIMS(Check In Management System),并根据集合覆盖原理提出一种新的优选策略,用于筛选CIMS系统中的测试用例。实验表明,该算法获得的测试集合,在时... 在图形处理芯片GPU芯片架构设计过程中,针对C-model源代码管理,设计了一套检入管理系统CIMS(Check In Management System),并根据集合覆盖原理提出一种新的优选策略,用于筛选CIMS系统中的测试用例。实验表明,该算法获得的测试集合,在时间约束条件下,能有效覆盖已有代码,充分发挥预检功能。 展开更多
关键词 集成电路设计 源码版本管理 集合覆盖 测试用例筛选 贪心算法
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