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通过测试电容测试线缆长度的方法
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作者 潘雪玲 《广西教育》 2010年第21期122-123,128,共3页
测试线缆长度一般可以采用测试电阻值或者测试电容值的方式来实现,采用测试电阻的方式需要将线缆的另一端短路起来,操作过于复杂。如果采用测试电容的方式。可以只在一端操作就可以完成测试过程,具有明显优势。
关键词 线缆长度测试 测试电容值 PIC单片机 555定时器
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高瞬态冲击下陶瓷电容损伤过程中的参数漂移特性 被引量:3
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作者 程向群 李晓峰 +2 位作者 王亚斌 富玉 王钢 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第S02期234-240,共7页
触发引信随弹体碰击和侵彻目标过程中经历的大瞬态高过载可能导致电容承受的应力急剧增加,严重情况将造成结构损伤,应力的瞬变带来电容参数的漂移,进而影响到与电容相关的电路单元。针对高瞬态冲击环境下带电电容参数漂移问题,基于高速... 触发引信随弹体碰击和侵彻目标过程中经历的大瞬态高过载可能导致电容承受的应力急剧增加,严重情况将造成结构损伤,应力的瞬变带来电容参数的漂移,进而影响到与电容相关的电路单元。针对高瞬态冲击环境下带电电容参数漂移问题,基于高速充放电原理提出一种高重复频率的电容参数测试方法。利用分离式霍普金森杆试验装置作为加载途径,设计高瞬态加载过程中测试电容参数漂移的系统,进行多组高动态加载试验,峰值过载由1.8×10^(4) g提高至16.8×10^(4) g.观测到未开裂电容和开裂电容在冲击过程中的充放电现象,通过数据分析获得电容应变、冲击过载和电学参数变化历程。数据曲线显示:在应力波首次通过电容时,电容容值减小,容值减小幅度因冲击强度而有所区别;该参数漂移现象可能导致带电电容极板的电压升高。 展开更多
关键词 多层陶瓷电容 高瞬态冲击 参数漂移 电容测试 霍普金森杆
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