基于路径遍历算法的SoC总线测试矢量集压缩

多跳变(MT)故障模型是目前提出的具有完整故障覆盖率的一种总线测试故障模型,但其测试矢量集存在严重的矢量冗余。提出了一个基于路径遍历算法的测试矢量压缩方法,以MT模型为基础,经压缩简化后得到更适用于SoC总线测试的BMTC故障模型。实验结果表明,使用提出的压缩方法,可以在保证MT模型故障覆盖率不变的情况下,将测试矢量数减少至原来的1/8,从而大大节省总线测试成本,提高测试效率。

深亚微米SOC高压缩率EDT设计

EDT(embeddeddeterministictest)是目前最有效的针对大规模片上系统的嵌入式测试方法,与常规基于ATPG的DFT(DesignForTestability)技术相比较,可以在保持相同缺陷覆盖率的情况下,大幅度降低测试成本,缩短测试时间,EDT的关键技术是解压缩器的算法设计,本文研究基于环形发生器的解压缩器设计,它不会对系统的逻辑核进行任何改动,如插入新的测试点或带来新的逻辑不确定态,可以获得40倍以上的压缩率,而且全部设计是基于标准的扫描/ATPG技术,可以非常方便的在SOC(systemonchip)设计环境中实现。在最后部分,我们研究了采用环形发生器解压缩器,在不同容量的SOC系统的EDT设计结果。