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存储器故障测试算法分析与研究
1
作者
宋建磊
许航
陆祥磊
《信息系统工程》
2023年第5期135-137,共3页
存储器应用广泛,使用量大,发展迅速,随着近年来存储芯片容量不断增大,故障检测难度与成本也逐渐上升。从存储器的故障模型和测试技术出发,对比分析了不同测试算法的特点,以便在实际检测中选择合理的测试算法,同时提出了一种改进型的测...
存储器应用广泛,使用量大,发展迅速,随着近年来存储芯片容量不断增大,故障检测难度与成本也逐渐上升。从存储器的故障模型和测试技术出发,对比分析了不同测试算法的特点,以便在实际检测中选择合理的测试算法,同时提出了一种改进型的测试算法,在基本不改变测试时间长度的情况下增加了故障检测类型,是一种简单可行的方法。
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关键词
存储器
测试算法
故障
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职称材料
RAM的故障模型及自测试算法
被引量:
10
2
作者
李璇君
辛季龄
+1 位作者
张天宏
刘国刚
《南京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第1期48-53,共6页
通过对RAM故障情况的全面、深入分析,建立了RAM的功能故障模型。并在此基础上,提出一种全面、实用的故障自测试算法。该算法分三步完成测试:(1)测试RAM中的固定为1(0)故障、固定开路故障、状态转换故障、数据保持故...
通过对RAM故障情况的全面、深入分析,建立了RAM的功能故障模型。并在此基础上,提出一种全面、实用的故障自测试算法。该算法分三步完成测试:(1)测试RAM中的固定为1(0)故障、固定开路故障、状态转换故障、数据保持故障及第一类耦合故障中的不相关耦合等故障;(2)测试第一类耦合故障中的相关耦合故障;(3)测试第二类耦合故障。对RAM的故障注入试验验证了该算法的有效性。并将此算法应用于航空电子模拟器的BIT(Builtintest)的设计中。
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关键词
故障检测
故障模型
耦合故障
自
测试算法
RAM
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职称材料
一种优化的Flash存储器测试算法
被引量:
5
3
作者
张曦
朱一杰
俞军
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2004年第5期121-123,共3页
直流写、直流擦以及漏极干扰是影响Flash存储器长期有效保存数据的主要原因,本文在Mohammad失效模型的基础上提出了一个更优的测试算法,从而有效缩短测试时间,节约生产成本。
关键词
直流写
直流擦
漏极干扰
测试算法
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职称材料
基于微指令覆盖的最小指令集测试算法
被引量:
2
4
作者
张盛兵
高德远
樊晓桠
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
2000年第10期1083-1087,共5页
着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能...
着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能达到指令测试的目的 .然后 ,通过定义指令的测试代价和测试效率 ,提出了一个可以有效地选择最小测试指令集的方法 .最后 ,将算法应用于 NRS40 0 0微处理器的功能测试 ,仅为传统的全指令集测试序列的 37.7% .
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关键词
微处理器
功能
测试
微指令
最小指令集
测试算法
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职称材料
嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证
被引量:
3
5
作者
林晓伟
郑学仁
+2 位作者
刘汉华
闾晓晨
万艳
《中国集成电路》
2006年第2期77-80,共4页
嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2P...
嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2PRAM仿真模型对存储器的BIST测试进行了验证,并成功将其应用于一款USB音视频芯片。
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关键词
嵌入式存储器
测试
验证
测试算法
BIST
内建自
测试
SOC设计
MARCH
体系结构
仿真模型
SRAM
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职称材料
一种改进的组件事务特征一致性测试算法
6
作者
赵会群
孙 晶
+1 位作者
王国仁
高 远
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2002年第6期718-724,共7页
软件体系结构描述语言(Architecture Description Language,ADL)Rapide提出了一种全局组件事务一致性测试方法,但未讨论组件之间事务一致性问题,在对组件事务管理机制分析的基础上,提出了一种改进的组件事务特征一致性测试算法.改进...
软件体系结构描述语言(Architecture Description Language,ADL)Rapide提出了一种全局组件事务一致性测试方法,但未讨论组件之间事务一致性问题,在对组件事务管理机制分析的基础上,提出了一种改进的组件事务特征一致性测试算法.改进算法增加了对组件之间事务(称为局部组件事务)一致性的测试,从而提高了算法的检测能力,并在只有局部组件事务不一致发生时,算法的执行时间由原来的O(n2)降为O(n).从理论和实验两个方面证明了改进算法的有效性.
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关键词
组件事故特征
一致性
测试算法
软件
测试
软件体系结构
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职称材料
人体平衡能力测试算法的研究
被引量:
5
7
作者
李丹
《唐山学院学报》
2008年第4期25-26,29,共3页
在系统总结已有人体平衡能力测试算法的基础上,综合和借鉴其它学科的研究方法,提出了变异系数、矩等新的评价算法,并在中国科学院合肥智能所生产的人体平衡能力测试软件中加以实现。
关键词
测试算法
平衡能力
变异系数
分析评价
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职称材料
一种有效的EEPLA的测试算法
8
作者
张万鹏
童家榕
唐璞山
《计算机应用与软件》
CSCD
1999年第2期31-34,61,共5页
本文提出了一种硬件电路很少,故障覆盖率最高的EEPLA的测试算法。同其他测试算法相比,该方法可以对每一个交叉点进行编程控制。所有单一的或多重的交叉点故障、线电位固定在“1”(“0”)、桥连故障都可以测试到,且测试算法简单易行。
关键词
可编程逻辑阵列
测试算法
EEPLA
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职称材料
基于FPGA的PCB测试机测试算法及其实现
9
作者
杨光友
刘志刚
周国柱
《电子器件》
CAS
2008年第2期586-590,共5页
印刷电路板(简称PCB)测试机的测试算法是PCB测试机的核心,它直接决定测试机的测试功能和测试速度。在现场可编程门阵列(Field programmable gate array,FPGA)上实现此算法,不仅简化了电路板设计,而且提高了系统的测试速度及系统的可重...
印刷电路板(简称PCB)测试机的测试算法是PCB测试机的核心,它直接决定测试机的测试功能和测试速度。在现场可编程门阵列(Field programmable gate array,FPGA)上实现此算法,不仅简化了电路板设计,而且提高了系统的测试速度及系统的可重构性。论文研究了PCB测试中的主要测试算法(导通测试和绝缘测试)的FPGA实现,给出了测试算法的状态图,以及应用Altera公司的EDA设计的仿真图。实验结果表明此方法是一种可行和有效的方法。
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关键词
PCB
测试
机
FPGA
硬件描述语言
测试算法
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职称材料
功能测试算法在前交叉韧带重建术后重返运动中的应用
10
作者
杨涛
《体育科研》
2020年第3期20-26,共7页
前交叉韧带重建术后重返运动时机是运动医学关注的焦点。目前观点认为前交叉韧带术后重返运动时机选择应基于功能测试结果,而非单纯由术后时间决定。功能测试算法(Functional Testing Algorithm,FTA)是一种基于康复结果来评估膝关节功...
前交叉韧带重建术后重返运动时机是运动医学关注的焦点。目前观点认为前交叉韧带术后重返运动时机选择应基于功能测试结果,而非单纯由术后时间决定。功能测试算法(Functional Testing Algorithm,FTA)是一种基于康复结果来评估膝关节功能恢复的测试体系。本文通过对现有文献中相关功能测试指标的测试时间和数据进行梳理,旨在为患者系统使用FTA体系提供可借鉴的参考依据。
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关键词
功能表现
功能
测试算法
前交叉韧带重建
重返运动
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职称材料
网络可用带宽的测试算法研究
11
作者
田亮
时鹿梅
《内江科技》
2016年第9期56-56,51,共2页
通过对变包测量算法和包对/包队列测量算法的理论分析,得出其各自在不同环境下可用性、准确性、健壮性、时效性的分析结果,说明其存在的缺陷和问题。将两种算法进行融合,采用传输控制协议封装探测包以解决算法对网际控制报文协议的依赖...
通过对变包测量算法和包对/包队列测量算法的理论分析,得出其各自在不同环境下可用性、准确性、健壮性、时效性的分析结果,说明其存在的缺陷和问题。将两种算法进行融合,采用传输控制协议封装探测包以解决算法对网际控制报文协议的依赖,利用传输控制协议的反馈机制,测量算法只需在发送端部署软件。针对当前带宽测量算法中存在的测量误差,分析影像测量精度的原因,基于TCP协议,封装探测包以解决算法对ICMP协议的依赖,利用反馈机制,只在发送端部署软件,避免背景流量的干扰。
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关键词
可用带宽
测量
算法
探测包
传输控制协议
影像测量
背景流量
测试算法
网际
反馈机制
算法
理论
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职称材料
边界扫描测试算法的分析与优化
被引量:
7
12
作者
杨迪珂
颜学龙
《计算机测量与控制》
2017年第5期4-6,13,共4页
伴随着电子技术和边界扫描测试技术的飞速发展,新的边界扫描测试算法也在不断涌现;而边界扫描测试的算法,一般都是指在互联模型的基础上,边界扫描测试向量的生成算法;生成合理的测试向量集可以以最短的测试时间来覆盖尽可能多的故障;从...
伴随着电子技术和边界扫描测试技术的飞速发展,新的边界扫描测试算法也在不断涌现;而边界扫描测试的算法,一般都是指在互联模型的基础上,边界扫描测试向量的生成算法;生成合理的测试向量集可以以最短的测试时间来覆盖尽可能多的故障;从对一些常用的边界扫描测试算法进行了粗略的分析,到后来对等权值算法和二进制计数算法进行了详细的分析,通过引入和分析边界扫描测试算法的定理、公式以及推论等,分别提出了等权值优化算法和权值递加算法;与优化前的算法作为比较,等权值优化算法降低了征兆混淆出现的概率,而权值递加算法同时降低了征兆误判率和征兆混淆率;综合分析,新的算法更好的权衡了测试向量集的完备性指标和紧凑型指标。
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关键词
边界扫描
测试算法
测试
矢量
优化
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职称材料
测试算法评估及可测性预报系统
被引量:
1
13
作者
钮颖彬
徐拾义
康建国
《计算机工程与科学》
CSCD
2001年第5期74-76,83,共4页
测试算法评估及可测性预报系统使用回归分析和遗传算法 ,为测试生成算法建立可测性参数的预报模型 ,使得对于给定电路 ,不必实际运行各测试生成算法 ,就可以快速评估并预报出最适合的算法。本文整体介绍了这一系统 。
关键词
逻辑电路
测试算法
评估
可测性预报系统
计算机
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职称材料
基于边界扫描技术的抗混淆自适应测试算法
14
作者
钟春丽
张平
+2 位作者
生拥宏
朱毅
曹凯
《信息工程大学学报》
2013年第5期600-606,共7页
针对现有边界扫描测试快速测试算法存在征兆混淆现象的问题,在深入分析多种测试算法的基础上,提出一种抗混淆的自适应测试算法。首先,通过分析走步算法的特点,给出一种走步算法的改进方案。该方案在保证算法完备性指标不变的情况下,提...
针对现有边界扫描测试快速测试算法存在征兆混淆现象的问题,在深入分析多种测试算法的基础上,提出一种抗混淆的自适应测试算法。首先,通过分析走步算法的特点,给出一种走步算法的改进方案。该方案在保证算法完备性指标不变的情况下,提高了算法的紧凑性指标。在此基础上,结合改良计数序列算法,生成抗混淆自适应测试算法。该算法解决了改良计数序列算法存在的征兆混淆问题,极大提高了算法的完备性指标,且紧凑性指标较好。
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关键词
边界扫描技术
测试算法
紧凑性指标
完备性指标
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职称材料
模拟集成电路测试算法与平台构建研究
被引量:
2
15
作者
张雪
《信息记录材料》
2021年第9期229-230,共2页
与数字集成电路相比,模拟集成电路的电路结构和特性发生了重大变化,因此很难为两者的测试系统建立统一的测试标准,因此,有必要针对模拟集成电路的测试计数进行研究。本文对模拟集成电路测试算法原理以及测试平台软硬件的构建进行研究,...
与数字集成电路相比,模拟集成电路的电路结构和特性发生了重大变化,因此很难为两者的测试系统建立统一的测试标准,因此,有必要针对模拟集成电路的测试计数进行研究。本文对模拟集成电路测试算法原理以及测试平台软硬件的构建进行研究,考虑到系统特性和目的,选择从硬件平台上的单个测试节点提取故障信息,并使用软件平台设计多通道滤波器组。
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关键词
集成电路
测试算法
多通道滤波器
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职称材料
存储器测试算法及诊断覆盖率研究
16
作者
陈金鸿
谢亚莲
《企业技术开发(下旬刊)》
2014年第4期9-10,共2页
随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上,吸收经典算法的思想,比较各种不同算法的优缺点,改进测试算法...
随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上,吸收经典算法的思想,比较各种不同算法的优缺点,改进测试算法,以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间,提高故障诊断覆盖率,达到比较满意的测试效果。
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关键词
存储器
测试算法
诊断覆盖率
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职称材料
0-1混沌测试算法中振幅对混沌序列的影响
17
作者
熊绪沅
万丽
赖佳境
《湖南文理学院学报(自然科学版)》
CAS
2016年第4期35-39,共5页
0-1混沌测试法是根据线性增长率K(c)值是否趋近于1或0来判断离散数据混沌性的新方法。选取Verhulst种群模型生成的3类时间序列(弱混沌、完全混沌、4-周期)为研究对象,验证了0-1测试法的有效性,对0-1测试算法中振幅α作了进一步探讨。结...
0-1混沌测试法是根据线性增长率K(c)值是否趋近于1或0来判断离散数据混沌性的新方法。选取Verhulst种群模型生成的3类时间序列(弱混沌、完全混沌、4-周期)为研究对象,验证了0-1测试法的有效性,对0-1测试算法中振幅α作了进一步探讨。结果表明:弱混沌序列K(c)值对振幅α最敏感,其次分别是强混沌序列和周期序列,K(c)值随振幅α变化的快慢可以反映序列的混沌程度。
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关键词
0-1
测试算法
Verhulst种群模型
混沌识别
噪声序列
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职称材料
面向神经网络的模糊测试算法优化
18
作者
崔建峰
张晓云
陈金鑫
《厦门理工学院学报》
2019年第5期41-46,共6页
为提高面向神经网络的缺陷检测效果,以Tensorfuzz框架检测流程为基础,对模糊器实现过程进行高层次抽象;然后使用自动协议生成策略优化原始模糊算法,输出可能覆盖新执行路径的测试数据集;最后通过反复测试提高测试的代码覆盖率,实现面向...
为提高面向神经网络的缺陷检测效果,以Tensorfuzz框架检测流程为基础,对模糊器实现过程进行高层次抽象;然后使用自动协议生成策略优化原始模糊算法,输出可能覆盖新执行路径的测试数据集;最后通过反复测试提高测试的代码覆盖率,实现面向神经网络的模糊测试算法的优化。基于三层全连接神经网络的对比实验表明:优化后的算法相对于原始模糊算法,在检测含有大量非数值型缺陷的待测系统时,可在单位时间内检测出更多的缺陷;多组检测实验检测到缺陷的时间均低于原始模糊算法的最低测试时间,能有效提高代码覆盖率并且达到提高测试效率的目的。
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关键词
模糊
测试算法
神经网络
深度学习
张量模糊
算法
优化
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职称材料
基于近红外光谱技术的个体无氧阈测试算法
19
作者
梁景超
《体育科技文献通报》
2016年第12期48-49,共2页
本研究诣在提出并检验通过近红外光谱技术测试运动员个体无氧阈的测试算法的合理性。以18名吉林省某足球俱乐部运动员为实验对象,在跑台上进行递增负荷测试,期间采集受试者肌肉血氧相关参数与血乳酸。测试结束后,将基于近红外光谱技术...
本研究诣在提出并检验通过近红外光谱技术测试运动员个体无氧阈的测试算法的合理性。以18名吉林省某足球俱乐部运动员为实验对象,在跑台上进行递增负荷测试,期间采集受试者肌肉血氧相关参数与血乳酸。测试结束后,将基于近红外光谱技术的无氧阈测试算法找出的受试者个体无氧阈,与通过血乳酸动力学变化曲线图上找出的受试者的个体无氧阈相比对,以检验该测试算法的合理性。结果发现,该测试算法找出的受试者个体无氧阈与通过血乳酸动力学变化曲线图上找出的个体无氧阈相一致,说明该测试算法是合理的。
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关键词
近红外光谱技术
个体无氧阈
测试算法
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职称材料
基于FBG的温度测试算法优化设计
20
作者
刘智超
杨有松
张婉仪
《科技风》
2015年第18期55-55,共1页
对于FBG温度测试网络系统而言,高效的温度测试处理算法可以保证系统快速准确地将被测区域的温度信息转换为显示数据,所以研究设计应用于FBG系统的优化算法具有重要意义。本文在FBG温度测试网络的硬件基础上,设计了一种新式的温度测试算...
对于FBG温度测试网络系统而言,高效的温度测试处理算法可以保证系统快速准确地将被测区域的温度信息转换为显示数据,所以研究设计应用于FBG系统的优化算法具有重要意义。本文在FBG温度测试网络的硬件基础上,设计了一种新式的温度测试算法,实验过程中采用该算法与传统测温方法进行对比,结果显示,本算法速度快、稳定性高,更适合于大范围温度检测网络的应用。
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关键词
光纤光栅
温度网络
温度
测试算法
优化设计
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职称材料
题名
存储器故障测试算法分析与研究
1
作者
宋建磊
许航
陆祥磊
机构
贵州航天计量测试技术研究所
出处
《信息系统工程》
2023年第5期135-137,共3页
文摘
存储器应用广泛,使用量大,发展迅速,随着近年来存储芯片容量不断增大,故障检测难度与成本也逐渐上升。从存储器的故障模型和测试技术出发,对比分析了不同测试算法的特点,以便在实际检测中选择合理的测试算法,同时提出了一种改进型的测试算法,在基本不改变测试时间长度的情况下增加了故障检测类型,是一种简单可行的方法。
关键词
存储器
测试算法
故障
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
RAM的故障模型及自测试算法
被引量:
10
2
作者
李璇君
辛季龄
张天宏
刘国刚
机构
南京航空航天大学动力工程系
出处
《南京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第1期48-53,共6页
文摘
通过对RAM故障情况的全面、深入分析,建立了RAM的功能故障模型。并在此基础上,提出一种全面、实用的故障自测试算法。该算法分三步完成测试:(1)测试RAM中的固定为1(0)故障、固定开路故障、状态转换故障、数据保持故障及第一类耦合故障中的不相关耦合等故障;(2)测试第一类耦合故障中的相关耦合故障;(3)测试第二类耦合故障。对RAM的故障注入试验验证了该算法的有效性。并将此算法应用于航空电子模拟器的BIT(Builtintest)的设计中。
关键词
故障检测
故障模型
耦合故障
自
测试算法
RAM
Keywords
fault detection
fault model
coupling fault
self detection method
fault injection
分类号
TP333.8 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
一种优化的Flash存储器测试算法
被引量:
5
3
作者
张曦
朱一杰
俞军
机构
复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2004年第5期121-123,共3页
文摘
直流写、直流擦以及漏极干扰是影响Flash存储器长期有效保存数据的主要原因,本文在Mohammad失效模型的基础上提出了一个更优的测试算法,从而有效缩短测试时间,节约生产成本。
关键词
直流写
直流擦
漏极干扰
测试算法
Keywords
DC-Programming, DC-Erasure, Drain Disturbance, Testing algorithm
分类号
TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
基于微指令覆盖的最小指令集测试算法
被引量:
2
4
作者
张盛兵
高德远
樊晓桠
机构
西北工业大学计算机科学与工程系
出处
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
2000年第10期1083-1087,共5页
基金
"九五"预研项目!(8.1.2 .8)
航空基金项目!(97F5 3 0 5 6 )
文摘
着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能达到指令测试的目的 .然后 ,通过定义指令的测试代价和测试效率 ,提出了一个可以有效地选择最小测试指令集的方法 .最后 ,将算法应用于 NRS40 0 0微处理器的功能测试 ,仅为传统的全指令集测试序列的 37.7% .
关键词
微处理器
功能
测试
微指令
最小指令集
测试算法
Keywords
microprocessor, functional testing, microinstruction, minimum coverage
分类号
TP332.06 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证
被引量:
3
5
作者
林晓伟
郑学仁
刘汉华
闾晓晨
万艳
机构
广州华南理工大学微电子研究所
出处
《中国集成电路》
2006年第2期77-80,共4页
文摘
嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2PRAM仿真模型对存储器的BIST测试进行了验证,并成功将其应用于一款USB音视频芯片。
关键词
嵌入式存储器
测试
验证
测试算法
BIST
内建自
测试
SOC设计
MARCH
体系结构
仿真模型
SRAM
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
一种改进的组件事务特征一致性测试算法
6
作者
赵会群
孙 晶
王国仁
高 远
机构
北方工业大学计算机科学系
东北大学计算机科学与工程系
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2002年第6期718-724,共7页
基金
本课题得到科技部科技型中小企业技术创新基金(00C26211300507)
国家"八六三"高技术研究发展计划项目(863-511-946-003)
+1 种基金
国家教委优秀青年教师教学
科研奖励计划基金资助
文摘
软件体系结构描述语言(Architecture Description Language,ADL)Rapide提出了一种全局组件事务一致性测试方法,但未讨论组件之间事务一致性问题,在对组件事务管理机制分析的基础上,提出了一种改进的组件事务特征一致性测试算法.改进算法增加了对组件之间事务(称为局部组件事务)一致性的测试,从而提高了算法的检测能力,并在只有局部组件事务不一致发生时,算法的执行时间由原来的O(n2)降为O(n).从理论和实验两个方面证明了改进算法的有效性.
关键词
组件事故特征
一致性
测试算法
软件
测试
软件体系结构
Keywords
software test, component transaction, ADL, Rapide
分类号
TP311.5 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
下载PDF
职称材料
题名
人体平衡能力测试算法的研究
被引量:
5
7
作者
李丹
机构
唐山学院继续教育学院
出处
《唐山学院学报》
2008年第4期25-26,29,共3页
文摘
在系统总结已有人体平衡能力测试算法的基础上,综合和借鉴其它学科的研究方法,提出了变异系数、矩等新的评价算法,并在中国科学院合肥智能所生产的人体平衡能力测试软件中加以实现。
关键词
测试算法
平衡能力
变异系数
分析评价
Keywords
testing algorithm
balance ability
the coefficient of variation
analysis and appraisal
分类号
TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
下载PDF
职称材料
题名
一种有效的EEPLA的测试算法
8
作者
张万鹏
童家榕
唐璞山
机构
复旦大学电子工程系集成电路CAD研究室
出处
《计算机应用与软件》
CSCD
1999年第2期31-34,61,共5页
文摘
本文提出了一种硬件电路很少,故障覆盖率最高的EEPLA的测试算法。同其他测试算法相比,该方法可以对每一个交叉点进行编程控制。所有单一的或多重的交叉点故障、线电位固定在“1”(“0”)、桥连故障都可以测试到,且测试算法简单易行。
关键词
可编程逻辑阵列
测试算法
EEPLA
Keywords
EEPLA, testing algorithm, test code, fault coverage.
分类号
TP332.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于FPGA的PCB测试机测试算法及其实现
9
作者
杨光友
刘志刚
周国柱
机构
湖北工业大学机械工程学院
出处
《电子器件》
CAS
2008年第2期586-590,共5页
文摘
印刷电路板(简称PCB)测试机的测试算法是PCB测试机的核心,它直接决定测试机的测试功能和测试速度。在现场可编程门阵列(Field programmable gate array,FPGA)上实现此算法,不仅简化了电路板设计,而且提高了系统的测试速度及系统的可重构性。论文研究了PCB测试中的主要测试算法(导通测试和绝缘测试)的FPGA实现,给出了测试算法的状态图,以及应用Altera公司的EDA设计的仿真图。实验结果表明此方法是一种可行和有效的方法。
关键词
PCB
测试
机
FPGA
硬件描述语言
测试算法
Keywords
PCB tester
FPGA
hardware description language
testing algorithm
分类号
TP206 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
功能测试算法在前交叉韧带重建术后重返运动中的应用
10
作者
杨涛
机构
上海体育学院
出处
《体育科研》
2020年第3期20-26,共7页
文摘
前交叉韧带重建术后重返运动时机是运动医学关注的焦点。目前观点认为前交叉韧带术后重返运动时机选择应基于功能测试结果,而非单纯由术后时间决定。功能测试算法(Functional Testing Algorithm,FTA)是一种基于康复结果来评估膝关节功能恢复的测试体系。本文通过对现有文献中相关功能测试指标的测试时间和数据进行梳理,旨在为患者系统使用FTA体系提供可借鉴的参考依据。
关键词
功能表现
功能
测试算法
前交叉韧带重建
重返运动
Keywords
functional performance
functional testing algorithm
anterior cruciate ligament reconstruction
return to play
分类号
G804 [文化科学—运动人体科学]
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职称材料
题名
网络可用带宽的测试算法研究
11
作者
田亮
时鹿梅
机构
新乡学院计算机与信息工程学院
出处
《内江科技》
2016年第9期56-56,51,共2页
文摘
通过对变包测量算法和包对/包队列测量算法的理论分析,得出其各自在不同环境下可用性、准确性、健壮性、时效性的分析结果,说明其存在的缺陷和问题。将两种算法进行融合,采用传输控制协议封装探测包以解决算法对网际控制报文协议的依赖,利用传输控制协议的反馈机制,测量算法只需在发送端部署软件。针对当前带宽测量算法中存在的测量误差,分析影像测量精度的原因,基于TCP协议,封装探测包以解决算法对ICMP协议的依赖,利用反馈机制,只在发送端部署软件,避免背景流量的干扰。
关键词
可用带宽
测量
算法
探测包
传输控制协议
影像测量
背景流量
测试算法
网际
反馈机制
算法
理论
分类号
TP393.06 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
边界扫描测试算法的分析与优化
被引量:
7
12
作者
杨迪珂
颜学龙
机构
桂林电子科技大学电子工程与自动化学院
出处
《计算机测量与控制》
2017年第5期4-6,13,共4页
文摘
伴随着电子技术和边界扫描测试技术的飞速发展,新的边界扫描测试算法也在不断涌现;而边界扫描测试的算法,一般都是指在互联模型的基础上,边界扫描测试向量的生成算法;生成合理的测试向量集可以以最短的测试时间来覆盖尽可能多的故障;从对一些常用的边界扫描测试算法进行了粗略的分析,到后来对等权值算法和二进制计数算法进行了详细的分析,通过引入和分析边界扫描测试算法的定理、公式以及推论等,分别提出了等权值优化算法和权值递加算法;与优化前的算法作为比较,等权值优化算法降低了征兆混淆出现的概率,而权值递加算法同时降低了征兆误判率和征兆混淆率;综合分析,新的算法更好的权衡了测试向量集的完备性指标和紧凑型指标。
关键词
边界扫描
测试算法
测试
矢量
优化
Keywords
boundary scan
test algorithm
test vector
optimization
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
测试算法评估及可测性预报系统
被引量:
1
13
作者
钮颖彬
徐拾义
康建国
机构
上海大学计算机工程与科学学院
出处
《计算机工程与科学》
CSCD
2001年第5期74-76,83,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目 ( 6 98730 30 )
文摘
测试算法评估及可测性预报系统使用回归分析和遗传算法 ,为测试生成算法建立可测性参数的预报模型 ,使得对于给定电路 ,不必实际运行各测试生成算法 ,就可以快速评估并预报出最适合的算法。本文整体介绍了这一系统 。
关键词
逻辑电路
测试算法
评估
可测性预报系统
计算机
Keywords
characteristic parameters
testability paramet ers
regression analysis forecast model
genetic algorithm forecast model
分类号
TP331.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于边界扫描技术的抗混淆自适应测试算法
14
作者
钟春丽
张平
生拥宏
朱毅
曹凯
机构
信息工程大学
[
出处
《信息工程大学学报》
2013年第5期600-606,共7页
基金
国家863计划资助项目(2009AA01Z434)
文摘
针对现有边界扫描测试快速测试算法存在征兆混淆现象的问题,在深入分析多种测试算法的基础上,提出一种抗混淆的自适应测试算法。首先,通过分析走步算法的特点,给出一种走步算法的改进方案。该方案在保证算法完备性指标不变的情况下,提高了算法的紧凑性指标。在此基础上,结合改良计数序列算法,生成抗混淆自适应测试算法。该算法解决了改良计数序列算法存在的征兆混淆问题,极大提高了算法的完备性指标,且紧凑性指标较好。
关键词
边界扫描技术
测试算法
紧凑性指标
完备性指标
Keywords
boundary-scan test technology
test algorithm
compact index
completeness indicators
分类号
TP306.3 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
模拟集成电路测试算法与平台构建研究
被引量:
2
15
作者
张雪
机构
无锡职业技术学院
出处
《信息记录材料》
2021年第9期229-230,共2页
文摘
与数字集成电路相比,模拟集成电路的电路结构和特性发生了重大变化,因此很难为两者的测试系统建立统一的测试标准,因此,有必要针对模拟集成电路的测试计数进行研究。本文对模拟集成电路测试算法原理以及测试平台软硬件的构建进行研究,考虑到系统特性和目的,选择从硬件平台上的单个测试节点提取故障信息,并使用软件平台设计多通道滤波器组。
关键词
集成电路
测试算法
多通道滤波器
分类号
TP311 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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职称材料
题名
存储器测试算法及诊断覆盖率研究
16
作者
陈金鸿
谢亚莲
机构
上海理工大学
上海工业自动化仪表研究所
出处
《企业技术开发(下旬刊)》
2014年第4期9-10,共2页
文摘
随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上,吸收经典算法的思想,比较各种不同算法的优缺点,改进测试算法,以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间,提高故障诊断覆盖率,达到比较满意的测试效果。
关键词
存储器
测试算法
诊断覆盖率
分类号
TP333.8 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
0-1混沌测试算法中振幅对混沌序列的影响
17
作者
熊绪沅
万丽
赖佳境
机构
广州大学数学与信息科学学院
广州大学数学与交叉科学广东普通高校重点实验室
出处
《湖南文理学院学报(自然科学版)》
CAS
2016年第4期35-39,共5页
基金
国家自然科学基金项目(41172295)
文摘
0-1混沌测试法是根据线性增长率K(c)值是否趋近于1或0来判断离散数据混沌性的新方法。选取Verhulst种群模型生成的3类时间序列(弱混沌、完全混沌、4-周期)为研究对象,验证了0-1测试法的有效性,对0-1测试算法中振幅α作了进一步探讨。结果表明:弱混沌序列K(c)值对振幅α最敏感,其次分别是强混沌序列和周期序列,K(c)值随振幅α变化的快慢可以反映序列的混沌程度。
关键词
0-1
测试算法
Verhulst种群模型
混沌识别
噪声序列
Keywords
0-1 test algorithm
Verhulst population model
chaos identification
noised sequence
分类号
O415.5 [理学—理论物理]
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职称材料
题名
面向神经网络的模糊测试算法优化
18
作者
崔建峰
张晓云
陈金鑫
机构
厦门理工学院计算机与信息工程学院
厦门理工学院光电与信息技术学院
南京大学软件学院
出处
《厦门理工学院学报》
2019年第5期41-46,共6页
基金
教育部科技发展中心“天诚汇智”创新促教基金项目(2018A01032)
文摘
为提高面向神经网络的缺陷检测效果,以Tensorfuzz框架检测流程为基础,对模糊器实现过程进行高层次抽象;然后使用自动协议生成策略优化原始模糊算法,输出可能覆盖新执行路径的测试数据集;最后通过反复测试提高测试的代码覆盖率,实现面向神经网络的模糊测试算法的优化。基于三层全连接神经网络的对比实验表明:优化后的算法相对于原始模糊算法,在检测含有大量非数值型缺陷的待测系统时,可在单位时间内检测出更多的缺陷;多组检测实验检测到缺陷的时间均低于原始模糊算法的最低测试时间,能有效提高代码覆盖率并且达到提高测试效率的目的。
关键词
模糊
测试算法
神经网络
深度学习
张量模糊
算法
优化
Keywords
fuzzing algorithm
neural network
deep learning
tensor fuzzy
algorithm optimization
分类号
TP311.5 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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职称材料
题名
基于近红外光谱技术的个体无氧阈测试算法
19
作者
梁景超
机构
吉林体育学院
出处
《体育科技文献通报》
2016年第12期48-49,共2页
基金
吉林体育学院研究生科研创新基金资助项目(项目编号:YC2016029)
文摘
本研究诣在提出并检验通过近红外光谱技术测试运动员个体无氧阈的测试算法的合理性。以18名吉林省某足球俱乐部运动员为实验对象,在跑台上进行递增负荷测试,期间采集受试者肌肉血氧相关参数与血乳酸。测试结束后,将基于近红外光谱技术的无氧阈测试算法找出的受试者个体无氧阈,与通过血乳酸动力学变化曲线图上找出的受试者的个体无氧阈相比对,以检验该测试算法的合理性。结果发现,该测试算法找出的受试者个体无氧阈与通过血乳酸动力学变化曲线图上找出的个体无氧阈相一致,说明该测试算法是合理的。
关键词
近红外光谱技术
个体无氧阈
测试算法
Keywords
near infrared spectroscopy
individual anaerobic threshold
the test algorithm
分类号
G804 [文化科学—运动人体科学]
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职称材料
题名
基于FBG的温度测试算法优化设计
20
作者
刘智超
杨有松
张婉仪
机构
长春理工光电信息学院光电工程分院
出处
《科技风》
2015年第18期55-55,共1页
基金
吉林省教育厅"十二五"科学技术研究规划项目:基于光纤布拉格光栅网络的粮仓温度监测系统(吉教科[2014]B060)
文摘
对于FBG温度测试网络系统而言,高效的温度测试处理算法可以保证系统快速准确地将被测区域的温度信息转换为显示数据,所以研究设计应用于FBG系统的优化算法具有重要意义。本文在FBG温度测试网络的硬件基础上,设计了一种新式的温度测试算法,实验过程中采用该算法与传统测温方法进行对比,结果显示,本算法速度快、稳定性高,更适合于大范围温度检测网络的应用。
关键词
光纤光栅
温度网络
温度
测试算法
优化设计
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
存储器故障测试算法分析与研究
宋建磊
许航
陆祥磊
《信息系统工程》
2023
0
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职称材料
2
RAM的故障模型及自测试算法
李璇君
辛季龄
张天宏
刘国刚
《南京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999
10
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职称材料
3
一种优化的Flash存储器测试算法
张曦
朱一杰
俞军
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2004
5
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职称材料
4
基于微指令覆盖的最小指令集测试算法
张盛兵
高德远
樊晓桠
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
2000
2
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职称材料
5
嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证
林晓伟
郑学仁
刘汉华
闾晓晨
万艳
《中国集成电路》
2006
3
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职称材料
6
一种改进的组件事务特征一致性测试算法
赵会群
孙 晶
王国仁
高 远
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2002
0
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职称材料
7
人体平衡能力测试算法的研究
李丹
《唐山学院学报》
2008
5
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职称材料
8
一种有效的EEPLA的测试算法
张万鹏
童家榕
唐璞山
《计算机应用与软件》
CSCD
1999
0
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职称材料
9
基于FPGA的PCB测试机测试算法及其实现
杨光友
刘志刚
周国柱
《电子器件》
CAS
2008
0
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职称材料
10
功能测试算法在前交叉韧带重建术后重返运动中的应用
杨涛
《体育科研》
2020
0
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职称材料
11
网络可用带宽的测试算法研究
田亮
时鹿梅
《内江科技》
2016
0
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职称材料
12
边界扫描测试算法的分析与优化
杨迪珂
颜学龙
《计算机测量与控制》
2017
7
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职称材料
13
测试算法评估及可测性预报系统
钮颖彬
徐拾义
康建国
《计算机工程与科学》
CSCD
2001
1
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职称材料
14
基于边界扫描技术的抗混淆自适应测试算法
钟春丽
张平
生拥宏
朱毅
曹凯
《信息工程大学学报》
2013
0
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职称材料
15
模拟集成电路测试算法与平台构建研究
张雪
《信息记录材料》
2021
2
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职称材料
16
存储器测试算法及诊断覆盖率研究
陈金鸿
谢亚莲
《企业技术开发(下旬刊)》
2014
0
下载PDF
职称材料
17
0-1混沌测试算法中振幅对混沌序列的影响
熊绪沅
万丽
赖佳境
《湖南文理学院学报(自然科学版)》
CAS
2016
0
下载PDF
职称材料
18
面向神经网络的模糊测试算法优化
崔建峰
张晓云
陈金鑫
《厦门理工学院学报》
2019
0
下载PDF
职称材料
19
基于近红外光谱技术的个体无氧阈测试算法
梁景超
《体育科技文献通报》
2016
0
下载PDF
职称材料
20
基于FBG的温度测试算法优化设计
刘智超
杨有松
张婉仪
《科技风》
2015
0
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职称材料
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