遗传粒子群算法在测试节点优选中的应用

测试节点优化是电路板测试诊断设计优化过程中的一个基本问题,属于经典的N-P难题,但目前用于测试点优化的算法存在搜索速度慢、不收敛等问题,因此提出一种基于遗传粒子群优化算法。该方法通过建立电路测试节点的"故障-测试"矩阵,用遗传算法对数学模型进行优化,并采用粒子群算法搜索实现了快速求解。与传统方法相比较,该方法搜索速度快,优化效果明显,已在工程实践中得到应用。

基于遗传粒子群混合算法的测试节点优选方法研究

随着电子技术的大规模发展,电路可靠性要求逐步提高,电路板测试诊断的重要性日益凸显;如何寻求最佳的测试节点或测试矢量集是电路的故障诊断中的重要问题,提出一种基于遗传粒子群优化算法对测试节点进行优化选择。该方法通过建立电路测试节点的"故障-测试"矩阵,用遗传算法对数学模型的进行优化,并采用粒子群算法搜索实现了快速求解;与传统方法相比较,该方法搜索速度快,优化效果明显,已在工程实践中得到应用。