基于可编程芯片的数字电路测试技术

介绍了一种利用被测数字电路中可编程微处理器芯片、大规模可编程FPGA芯片可编程芯片来参与测试的方法。通过对被测数字电路中可编程芯片进行测试软件重构来完成测试性电路构建。在测试计算机控制下,向被测电路加载测试向量。测试软件控制被测电路中的微处理器、FPGA提供各种节点测试响应信号,最终在测试计算机中完成信号的比对及故障识别与辅助定位。经过验证实验,证明该方法具有实用性强、测试成本低的优点。