基于PLC的测试针倒角机

在测试针生产时,倒角工序工艺要求相对低,企业不重视,导致生产设备落后。今天,制造业正朝高、精和尖发展,即使简单的倒角工序,手工作业已不能满足要求。在分析了测试针倒角工序的特点和现存问题的基础上,详细介绍了一种新型的自动倒角设备,该设备结构精巧,控制系统简单,对同类设备的研发有很好的借鉴作用。

长寿命抗干扰测试针在SOT363半导体高频器件测量中的应用

在半导体器件生产企业中,使用测试针接触器件的引脚进行电参数测量,必须考虑两个问题。一个问题是降低测试针与器件引脚间的接触电阻。在自动化生产线中,企业要想得到高精度的测量值,必须经常替换已磨损的测试针,才能获得更高的成品率。另一个问题是降低外部信噪对半导体高频器件(工作频率>2 GHz)HFE参数测量的影响。外部信噪会使高频器件的HFE参数不稳定,造成成品率的降低。通过SOT363测试针设计实例,介绍了新型长寿命抗干扰测试针的设计方法。

金属丝焊接板测试针印原因分析及改善

通过对飞针测试时电镀镍金板金属丝焊接IC位置测试针印造成批量报废的原因进行分析,采取多种试验方案寻找问题根源,使问题得到彻底解决。

高比能量锂离子软包电池针刺测试的影响因素研究

通过高重复性的针刺试验平台对两款高镍三元体系的高比能量(260~300 Wh/kg)软包锂离子动力电池进行试验,基于针刺内短路的电子流向模型,分析了不同针刺速度、针尖角度、夹具形式和针刺位置的影响和作用规律,并提出针刺安全性能的量化评估参数。试验结果表明:测试使用的夹具孔径越小、针刺速度越快,电池在针刺过程中的内短路放电就越严重,针刺后的温升和压降也越大,特别是使用20 mm以下孔径夹具对高比能软包电池进行高速针刺时有较大概率触发热失控并起火;然而由于软包电池的层间导热系数较低,此时电芯外部温升相对起火存在一定滞后性;在其他条件相同时,刺针针尖角度的变化并不会给内短路放电的能量损耗带来太大差异,反而是针刺位置的偏离会大大提高失效起火的风险,这再次印证了隔膜对刺针的包裹和阻隔作用是高比能量软包电池针刺起火与否的重要影响因素;区别于传统的测试现象描述和Hazard Level等级评价,针对内短路发热导致集流体熔融这一过程,可以根据其特征电压参数计算短路恶劣指数,能够为产品的针刺安全性能提供量化的评价指标。本研究有助于锂离子软包电池的针刺测评技术开发,并可以为高比能量电池在面临机械应力破坏或枝晶过度生长时的安全性提供试验参考。

飞针测试机:结构、原理与实现

介绍了一种测试PCB裸板性能的设备-飞针测试机,包括测试机的结构、测试的方法和原理;随后简要介绍了飞针测试计算机控制系统的硬件和软件实现;最后应用旅行商问题的解决方法,对飞针测试探针移动路径的优化问题进行了研究。

飞针测试在数字T/R组件检测中的应用

数字T/R组件具有品种多、数量大和集成度高等特点,如何高效和精准地完成数字T/R组件检测,是批生产过程中必须解决的问题。飞针测试具有测试开发高效、测试精度高和测试成本较低等优点,使之成为数字T/R组件检测的解决办法。针对数字阵列雷达中T/R组件检测的难点,介绍了飞针测试技术的原理及功能,结合典型产品阐述了飞针测试在某型数字T/R组件检测中的应用。飞针测试技术的使用显著提升了元件检测覆盖率,缩短测试开发和运行时间,在数字T/R组件批生产检测中具有重要应用。

MPP4504飞针测试机计算机控制系统的开发

飞针测试机是用来测试PCB性能的设备。以MPP4504飞针测试机为例介绍了飞针测试机计算机控制系统的开发过程,包括控制系统的硬件实现和软件框架。

飞针测试工艺研究及Z轴结构设计

以双面飞针测试系统为例,介绍了飞针测试的主要工艺技术,并详细介绍了Z轴机构的设计改进过程。

飞针测试的特点及应用

飞针测试是目前电气测试一些主要问题的最新解决办法.它用探针来取代针床,使用多个由马达驱动的、能够快速移动的电气探针同器件的引脚进行接触并进行电气测量.这种仪器最初是为裸板而设计的,也需要复杂的软件和程序来支持;现在已经能够有效地进行模拟在线测试了.飞针测试的出现已经改变了低产量与快速转换(quick-turn)装配产品的测试方法.以前需要几周时间开发的测试现在几个小时就可以了,大大缩短产品设计周期和投入市场的时间.

DWG格式的飞针测试文件转换

以一种多层带腔体基板文件为例,详细介绍了利用CAM350软件对Auto CAD设计的*.dwg格式文件的转换方法以及转换过程中需要注意的事项。

修正飞针测试系统测试点坐标的解决方法

飞针测试系统是用来测量混合电路板、LTCC基板、PCB板的各网络间开路、短路、绝缘以及电容的专业电子芯片检测设备。针对飞针测试系统中测试坐标点的修正提出了一种解决方法,不仅能准确得出对待测基片的平移偏距,也能够通过算法计算出待测基片的旋转角度,综合考虑平移和旋转这两点的因素最终确定待测点的实际位置坐标。

LTCC基片的飞针测试工艺研究

低温共烧陶瓷技术(Low Temperature Co-fired Ceramic LTCC)是近年来兴起的一种相当令人瞩目的多学科交叉的整合组件技术,广泛用于基板、封装及微波器件等领域。主要介绍当前广泛用于检测混合电路板、LTCC陶瓷基板、PCB裸板故障的飞针测试设备在陶瓷基片测试中的工艺研究。

LQ-1600K打印机针测试程序的设计与维修

讨论了LQ-1600K打印机的针测试原理与维修方法，给出了利用QBASIC语言设计的针检测程序和运行结果。

飞针测试机侧向驱动零件的有限元分析与结构优化

讨论飞针测试机侧向驱动部分的结构设计,选取关键零件Y轴连接板,首先分析侧向驱动部分的连接和运动,建立有限元模型。钢密度大于铝合金,其刚性和热稳定性均优于铝合金,通过静力学分析去除钢制连接板受力较小部位、减小厚度等措施,减轻连接板质量,保证在相同外力作用下,X方向最大变形量比铝板大5%,质量最多比铝板重1 kg。最后通过热分析,证明钢制连接板的热稳定性优于铝制连接板。

CAM在飞针测试文件转换中的运用

在飞针测试前要先进行测试文件转换,CAM软件能够很好地完成这一工作。介绍了CAM软件在飞针测试文件转换中的运用,以PCB设计软件Protel为例,讲述CAM350进行飞针测试文件的转换过程。

无触点磁电机点火提前角与三针放电测试仪的设计

传统的机动弥雾机以汽油机为动力源,导致工作状态不稳定。背负式弥雾机虽使用新型汽油机,但因该汽油机内部的磁电机采用无触点装置,使现有的技术设备无法对点火提前角及其他技术指标进行检测,为此,设计出磁电机点火提前角与三针放电测试仪,以满足实际需要。介绍无触点磁电机的工作原理及相关技术指标,设计出无触点磁电机点火提前角及三针放电器测定装置和直流调速装置。实践证明,无触点磁电机点火提前角及三针放电测试仪不仅能进行磁电机的一般出厂试验,而且能将多种试验项目结合起来,适应性强、测试范围广、测试效率和精度高、操作方便、调速稳定,可满足无触点磁电机的测试需要。

针刺诱发电池热失控的研究进展综述

针刺测试是研究锂离子电池热失效机理和热失控特性的重要方法之一。本文汇总了目前广泛采用的针刺测试设置,并研究了不同变量对热失控演化的影响,包括针刺的深度、速度、位置以及针的材料和直径等,对针刺破坏下锂离子电池内短路及热失控行为进行机理性探索与分析。结果发现,针刺的深度与电池热失控行为的严重程度成正比,针刺的速度对电池热失控没有明显影响,针刺发生在活性材料较密集或电极附近时电池热失控更严重。针的材料和直径对电池热失控行为具有双重影响,需要结合实际情况对产热和散热情况分别进行分析。最后通过总结不同因素对电池热失控的影响,对减缓锂离子电池热失控以及更新其安全测试程序提出了新的见解,为后续的创新型研究工作提供思路。

移动探针测试技术的发展(3)

随着 PCB 密度不断增加,单位面积测试点数上升很快,测试点之间的距离也日趋微观化。在细节距 BGA 应用中,每平方英寸测试点数从500(1.27毫米节距的 BGA)到2500(0.5毫米节距的 BGA)不等。超细节距的 QFP 和CSP(芯片级封装)的应用,测试点节距已小致1～2mil。而且,PCB

基于飞针测试仪的电子模块的测试与实现

重点讨论了飞针在线测试技术在电子模块测试中的测试与实现。介绍了飞针测试原理,阐述了电子模块飞针测试的流程以及测试中电子模块,提出了短路测试中出现的问题的解决办法,以及NOD文件的快速修改技巧,并且详细说明了飞针和针床的互补关系。飞针测试技术的使用能准确定位故障点,缩短调试周期,对批量生产的电子模块调试有重要作用。