结合结构特征基于测试集重排序的故障诊断方法

故障诊断是集成电路领域中的重要研究方向,基于测试激励集方法求解候选故障诊断是目前较为高效的诊断方法,而GTreord是目前具有较高诊断准确性的方法.在对GTreord方法深入研究的基础上,本文依据测试激励与候选故障诊断解之间的结构特征,通过分析电路故障输出响应,提出结合结构特征的测试激励集重排序的候选诊断(Reor⁃dering Test Default Diagnosis,RTDD)方法.根据测试激励对生成候选故障诊断解集合的影响程度的不同,提出测试分数概念;通过比较电路的实际故障输出响应、无故障输出响应、模型故障输出响应,计算出测试激励的测试分数.测试激励集依据测试分数进行重排序,并将重排序后的测试激励集用于故障诊断.实验结果表明,与GTreord方法相比,RTDD方法提高了测试激励集重排序的效率,求解时间提高1~4个数量级;此外,在保障同样诊断准确性的情况下,RTDD方法有效减少了所需测试的激励个数.

测试性能估算的测试集重排序方法

目前在集成电路测试中,测试时间长、测试效率低是影响测试成本的关键问题之一,针对此问题提出了一种基于测试性能估算的测试集重排序方法。首先针对不同的故障类型进行分类建模,然后对每种故障类型进行仿真,通过在每个逻辑门注入故障,统计测试向量命中故障门的面积之和来估算测试向量的测试性能,最后根据测试性能的优劣对测试集进行重新排序。实验表明,对于单固定故障使用排序后的测试集测试可以减少53.29%的故障检测时间。该方法是通过对电路的逻辑结构进行分析和统计然后对测试集进行优化,对ISCAS 89标准电路进行试验,与其他测试集重排序对比,有着明显的优化。算法运行完全是基于软件的,不需要增加任何硬件开销,可以直接相容于传统的集成电路测试流程。