出口测量探针布局对轴流压气机气动性能试验的影响研究

为了研究出口测量探针布局(探针数量及所处轴向位置)对压气机气动性能试验的影响,针对含测量探针的三级轴流压气机开展全周非定常数值计算。结果表明:出口测量探针将改变上游的流场结构,在末级叶片进出口截面对应探针的周向位置处形成局部高总压区和气流角偏移区,该区域覆盖有3~4个叶栅通道;随着探针与末级叶片轴向距离增加,高总压区的强度减弱,但作用范围增加;增加出口探针数量并未明显改善压气机试验性能评估精度,与无探针条件下的压气机性能相比,压比偏高0.6%,效率绝对值偏高1.8%;为减少试验中基于探针测点得到的压气机性能试验误差,不仅需考虑探针对测量截面流场的影响,更应根据测量截面流场不均匀性合理布局探针。

Kelvin探针测量技术在电化学研究中的应用进展

Kelvin探针测量技术被引入到腐蚀研究领域后,成为研究薄液膜和有机涂层下金属腐蚀的有力电化学工具和手段.Kelvin探针技术与原子力显微镜技术相结合产生出扫描Kelvin探针力显微镜,使Kelvin技术在材料研究和腐蚀领域得到了更好的应用.本文简述了Kelvin探针技术的测量原理和装置,重点综述了近十年来该技术在电化学研究中的应用进展.

双探针测量气液界面密度的研究

推广了原有气液两用流局部界面密度双探针方法测量模型，使这一模型不仅可用于球形界面，而且可用于各种长、短轴半径之比的椭圆形扁球体界面型式的气液分散流动。基于改进的测量模型，应用光导纤维双探针技术测量了垂直圆管内气液两相泡状流的界面密度。测量结果与照相方法所测结果符合良好。

无铅互连凸点电迁移失效的四探针测量

针对无铅互连电迁移失效这一高密度封装时面临的重要课题进行了研究.采用四探针法分别监测了电流密度为1.5×104A/cm2和2.2×104A/cm2时Sn3.5Ag0.5Cu互连凸点上电压的变化,发现电流密度为2.2×104A/cm2时凸点的平均电阻变化率超过电迁移失效的临界值10%,分析了其微观结构的扫描电镜照片,所提出的发生电迁移失效的电流密度值为凸点设计提供十分有用的数据.对无铅互连凸点的电迁移失效过程和四探针测量法的测量误差进行了分析,提出了采用四凸点结构提高测量精度的改进措施.

等离子体高频不稳定性的高阻抗探针测量

采用高阻抗探针，测量了热电子等离子体的高频扰动。扰动频率与外磁场的关系及爆发区域的实验观察表明。

高校物理教学实验中“四探针测量金属薄膜电阻率”的引入

在微电子技术领域中常用的测量电阻率的方法就是四探针测量金属薄膜电阻率的方法,而目前国内高校正面临教学体制改革。鉴于此,本文分析研究在高校物理教学实验中引入"四探针测量金属薄膜电阻率",分别介绍了实验原理以及引入该实验的优点,并深入探讨了高校物理教学实验的安排等,最后本研究认为将"四探针测量金属薄膜电阻率"引入到高校物理教学实验中具有实用价值,值得在国内高校中推广。

减压直流等离子体射流电子温度的双静电探针测量

建立了一套双静电探针诊断系统,用于检测在气流量为4.2 slm、弧电流为80 A、真空室压力为165Pa的条件下纯氩直流非转移弧等离子体射流的电子温度及其分布。结果表明:发生器出口处射流中心的电子温度约为14 500 K,射流中电子温度随离开发生器出口的轴向或径向距离的增加而单调降低;径向电子温度梯度约为263 K/mm,轴向电子温度梯度为69 K/mm;射流中电子温度随弧电流增加而单调上升。

探针测量布局对中介机匣流场影响的试验研究

为研究侵入式常规测量探针对中介机匣气动性能试验的影响,通过更改中介机匣沿气流方向不同轴向位置探针的周向位置,开展了探针布局对中介机匣流场影响的对比试验研究和数值分析。结果表明:中介机匣流道内部探针对下游流场的影响范围很大,影响程度随气流进口马赫数的增大而增大。上游探针尾迹对下游流场影响的轴向距离可达到6.3倍进口流道高度(50倍探针支杆直径),周向影响范围约为4倍探针支杆直径(约15°)。

HL-2A装置偏滤器运行模式的探针测量

HL-2A装置是一个具有偏滤器位形的托卡马克装置，为我们开展先进偏滤器物理实验和改善主等离子体约束性能研究准备了良好的条件。等离子体的杂质含量由杂质源分布以及SOL和芯部等离子体中各种杂质输运过程确定。由于离子碰撞可导致狭窄的偏滤器入口部件处杂质溅射的增强，与起源于靶板处的杂质相比，偏滤器入口处的杂质更有效地污染芯部等离子体。

一种分布式的宽带网络测量系统

开发了一套跨平台、分布式的网络流量测量系统。可起到测量网络业务流、评估网络性能、规划网络设计等作用。该系统由控制中心、测量探针和数据存储服务器三个模块组成,实现了对网络流量的主动测量和被动测量。主要采用了IPFIX标准、FLEX web技术,实现了多任务调度、RIA应用,具有部署灵活、扩展性好、兼容性强、数据呈现清晰直观等特性。

HL-2A装置等离子体边缘的单探针快采测量

托卡马克装置等离子体边缘和刮离层(SOL)物理的实验和理论研究是目前聚变装置中等离子体的杂质含量、杂质源分布以及SOL和芯部等离子体中各种杂质输运过程研究的重要课题之一。等离子体表面相互作用导致杂质的产生和随后杂质传输以及对芯部等离子体的污染。在孔栏和偏滤器靶板表面上易产生的离子通量的电荷态和能量通过物理贱射是确定杂质释放大小的最重要因素，而化学贱射是取决于表面形成的元素、碰撞的等离子体和表面温度。杂质传输强烈地取决于刮离层等离子体的背景特征，如温度、密度、传输效率和流速。

一种卧式杨氏模量测量仪

采用横卧式支架、螺旋测微器和指示灯 ,测量加载情况下的金属丝的微小伸长量 。

阵列DPS测量技术在材料动态力学性能研究中的应用

利用37mm火炮加载装置,在平板撞击下,以含预制内部缺陷的K9玻璃作为实验样品,采用具有高空间-时间分辨率的阵列式多普勒探针测量技术(空间和时间分辨率分别为127μm和50pm),测到了样品后界面不同位置的粒子速度。简略分析了材料内部缺陷对样品自由面粒子速度信号的影响,探索了从细-微观尺度研究材料动态力学性能的实验方法。

四探针法测试半导体掺杂浓度的实验研究

为了解决半导体掺杂浓度的测试问题,需要采用简单易行的方法对半导体进行测试。在微电子技术领域,四探针技术一直是测量电阻率的常用方法。结合吉林大学在半导体器件物理与实验精品课程的建设,以训练学生对半导体物理学专业知识的理解和掌握,笔者对四探针法测试半导体掺杂浓度进行了实验研究。通过建立半无限大和无限薄层两个理论模型,对不同厚度半导体材料的电阻率测试方法进行了实验研究,并对原理进行了讨论。为了解决商用测试设备昂贵且无法满足实验教学需求的问题,笔者提出自制实验测试装置,采用钨合金的简易手动探针台,并根据实验需要自行设计了四探针测试架。实践应用表明:四探针测试系统的建立可以完成测量半导体掺杂浓度的任务,满足了半导体物理实验的教学需求,取得了较好的教学效果。

航空发动机转子叶尖间隙测量

简述了航空发动机转子叶尖间隙控制的意义及作用 ,转子叶尖间隙设计选择的依据。以某型风扇和某型高压压气机转子叶尖间隙测量为例 ,具体分析了间隙对性能的影响作用和变化规律 ,论证了间隙测试技术作为一种指导和验证手段在工程应用中的重要作用。

检测数控切割机机械上的探针

今天标准数控切割机床所能达到的精度和重复精度已经接近过去只有CMM坐标测量机才能达到的水平。这一功能可以使机床本身在关键的加工工艺阶段，用探针对工件进行自动检测。一旦机床安装了测量仪器，测量探针就变成了操作员的CNC测量计。

大流量空压机离心段级间气动数据测量与分析

单台10万m^3/h制氧量空压机属于超大流量压缩机组,为保证入口流量与出口压力要求,采用轴流+离心的结构,八级全静叶可调轴流叶片满足流量调节要求;两级离心段级升压达到规定出口压力。为进一步掌握离心级叶轮性能,提高机组效率,为机组优化及后期产品升级提供数据支撑,在进行机组段性能测试的基础上,采用压力温度一体化探针测试叶轮入口气动性能参数变化情况,分析单级叶轮压比、效率等指标是否达到设计要求。这样由段至级的测试不仅为产品气动性能问题分析提供技术保证,更加为压缩机内部流场测试提供宝贵的经验。

基于三坐标测量技术的曲面误差测量实验比较

由于编程误差、工艺系统误差和人员误差等因素影响,曲面实际加工表面达不到理论设计要求。分别采用激光扫描法的柔性三坐标测量臂和探针测量法的正交式三坐标测量机,研究了不同三坐标测量技术测量曲面误差的实际效果。2种方法相同点是所获曲面误差分布趋势基本一致,不同点是误差数据表现形式和精度有较大差别。