本安型传感器浪涌(冲击)抗扰度试验暂态分析

针对正向浪涌(冲击)抗扰度试验中,本安型传感器直流电源端口电压出现较长时间反向缺口而导致难以实现判据A的问题,以一种典型的矿用本安型甲烷传感器为研究对象,采用ADS仿真软件对组合波发生器、耦合去耦网络和本安型传感器等效电路进行了仿真建模,搭建了本安型传感器直流电源端口浪涌(冲击)抗扰度试验仿真电路,并根据暂态仿真波形分析了试验暂态过程。研究结果表明,本安型传感器直流电源端口电压反向缺口是浪涌保护器件动作引起的二次效应;仿真波形与实际波形一致,验证了暂态分析方法的合理性。

基于DCS工业应用场景的以太网Link Down机制的研究

DCS工业应用场景下,以太网接口需要满足EMC浪涌抗扰度测试3A等级的要求。文中针对以太网百兆电口在浪涌抗扰度测试中出现Link Down故障导致控制趋势跳变这一问题,通过对影响百兆PHY芯片Link Down的主要因素进行理论分析,结合测试结论设计了干扰发生器,并对各厂商的PHY芯片进行浪涌测试和模拟干扰测试。证明了浪涌试验下PHY芯片的差分输入信号畸变时间大于厂商设置的耐受时间导致网口Link Down这一猜想的正确性和模拟干扰测试方法的可靠性。明确了TANS_MAX>150μs作为DCS工业应用场景下PHY芯片选型指标,为芯片选型提供依据。

电子设备电磁兼容的重要性及检测技术

电子设备的电磁兼容性决定了其在电磁环境下工作的稳定性和安全性。为提高电磁兼容性,应对电子设备实施电磁兼容性检测与分析,对电磁兼容性薄弱环节进行改进。文章介绍了电磁兼容的概念,对电子设备电磁兼容的重要性进行了分析,给出了电磁兼容性检测技术方法,以提高电子设备电磁兼容性并最终实现其可靠性、安全性目标。