基于光干涉原理的液晶空盒盒厚测量

液晶空盒盒厚决定了液晶盒中液晶层的厚度 ,对整个液晶显示器件的光电特性、底色及响应速度等有很大的影响。因此 ,如何准确地测量空盒盒厚具有实际的应用价值 ;本文从光干涉原理出发 ,推导出测量液晶空盒盒厚的简单而准确的方法 ,此方法适用于各种排列及任意扭曲角的液晶空盒 ,具有误差小、设备简单、操作简便等特点 ,充分满足了液晶显示器件生产厂家进行盒厚过程监控和优化器件设计的需要。