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深亚微米光记录测试仪
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作者 陈仲裕 沈俊 《测试技术学报》 2003年第4期334-336,共3页
　详细描述了进行亚微米、深亚微米光记录和探测的测试仪器,其探测功率可达30mW,最小的探测时间为20ns,探测的最小光点200nm左右,带有CCD观察的系统可方便地定位及进行图像处理,整个测量过程均在计算机控制下进行,操作非常方便.它是对... 　详细描述了进行亚微米、深亚微米光记录和探测的测试仪器,其探测功率可达30mW,最小的探测时间为20ns,探测的最小光点200nm左右,带有CCD观察的系统可方便地定位及进行图像处理,整个测量过程均在计算机控制下进行,操作非常方便.它是对高密度光盘材料记录性能进行测量,以及对深亚微米,乃至纳米记录材料进行研究的有效工具. 展开更多
关键词 深亚微米光记录 测试仪器 高密度光盘 光斑测量
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