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光刻胶灰化工艺与深亚微米线条的制作 被引量:6
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作者 孙自敏 刘理天 李志坚 《微细加工技术》 1998年第2期31-36,共6页
随着器件尺寸的缩小,细线条的制作成为很关键的工艺,普通光学光刻已接近其分辨率的极限,而电子束光刻和X射线光刻技术复杂、费用昂贵。本文对光刻胶灰化工艺进行了分析和研究,并应用此工艺进行了深亚微米线条的制作,在普通光学光... 随着器件尺寸的缩小,细线条的制作成为很关键的工艺,普通光学光刻已接近其分辨率的极限,而电子束光刻和X射线光刻技术复杂、费用昂贵。本文对光刻胶灰化工艺进行了分析和研究,并应用此工艺进行了深亚微米线条的制作,在普通光学光刻机上制作出宽度小于0.25μm细线条。我们已将此工艺成功地应用在深亚微米MOSFET的制作中。 展开更多
关键词 光刻 胶灰化工艺 深亚微米线条 MOSFET
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扩磷多晶硅的反应离子刻蚀
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作者 张晓永 朱正涌 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1997年第5期29-32,共4页
提出了一种利用普通光刻机获得亚微米、深亚微米刻蚀掩蔽图形的方法:二氧化硅膜过腐蚀法。利用该方法形成的掩蔽图形实现了扩磷多晶硅的高度各向异性反应离子刻蚀,并对其刻蚀机理进行了分析。
关键词 扩磷多晶硅 二氧化硅膜 过腐蚀法 深亚微米线条
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