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VLSI版图DRC验证算法的优化 被引量:5
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作者 郭雅琳 陈岚 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第11期186-188,共3页
介绍了版图验证的几种方法:扫描线算法和层次化验证算法,并比较其优缺点,最后着重介绍了层次式与扫描线综合验证算法,并在SUN工作站上用C++实现。
关键词 版图验证 层次式算法 扫描线算法 VLSI 深亚微米dsm
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