深孔电极载体蒸馏光谱法测定化探样品中八个易挥发元素

以碘化铵、硫酸钠、硫粉、碳粉、氧化钙、二氧化硅混合物为缓冲剂，深孔电极，截取曝光，以谱带背景作内标，一次摄谱同时测定化探样品中As、Sb、Bi、Ag、Pb、Cd、Tl、Sn等微量元素。方法精密度（RSD，n=10）为1．2％-5．0％，检出限为0．013—1．0μg／g。方法经国家一级标准物质验证，测定结果与标准值基本相符。

光谱法测定化探样品中痕量Ag、Sn的对比实验

对比实验是依据实验室现有的仪器设备条件,找出既满足元素的检出要求,又能便捷有效开展实验生产的分析方法。