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Ni^+注入n—GaP DLTS谱中Ni杂质能级的识别
1
作者
杨锡震
陈晓白
+1 位作者
李智
田强
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996年第2期133-142,共10页
在不同条件下退火的Ni+注入n-GaPDLTS谱中观测到表观激活能在0.60~0.70eV范围内的多个多子峰和少子峰.对各样品掺杂层内的能带弯曲及Ni杂质各荷电状态浓度空间分布在DLTS测量的零偏-反偏过程中的变化进...
在不同条件下退火的Ni+注入n-GaPDLTS谱中观测到表观激活能在0.60~0.70eV范围内的多个多子峰和少子峰.对各样品掺杂层内的能带弯曲及Ni杂质各荷电状态浓度空间分布在DLTS测量的零偏-反偏过程中的变化进行了计算.结合分析实测各能级热发射率数据,对其中起源于NiGa中心的DLTS峰作出了判断.
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关键词
深能极
磷化镓
DLTS
镍掺杂
下载PDF
职称材料
题名
Ni^+注入n—GaP DLTS谱中Ni杂质能级的识别
1
作者
杨锡震
陈晓白
李智
田强
机构
半导体超晶格国家重点实验室
出处
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996年第2期133-142,共10页
文摘
在不同条件下退火的Ni+注入n-GaPDLTS谱中观测到表观激活能在0.60~0.70eV范围内的多个多子峰和少子峰.对各样品掺杂层内的能带弯曲及Ni杂质各荷电状态浓度空间分布在DLTS测量的零偏-反偏过程中的变化进行了计算.结合分析实测各能级热发射率数据,对其中起源于NiGa中心的DLTS峰作出了判断.
关键词
深能极
磷化镓
DLTS
镍掺杂
Keywords
GaP,deep level,Ni impurity,DLTS
分类号
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
O472.8 [理学—半导体物理]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Ni^+注入n—GaP DLTS谱中Ni杂质能级的识别
杨锡震
陈晓白
李智
田强
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996
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