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Ni^+注入n—GaP DLTS谱中Ni杂质能级的识别
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作者 杨锡震 陈晓白 +1 位作者 李智 田强 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第2期133-142,共10页
在不同条件下退火的Ni+注入n-GaPDLTS谱中观测到表观激活能在0.60~0.70eV范围内的多个多子峰和少子峰.对各样品掺杂层内的能带弯曲及Ni杂质各荷电状态浓度空间分布在DLTS测量的零偏-反偏过程中的变化进... 在不同条件下退火的Ni+注入n-GaPDLTS谱中观测到表观激活能在0.60~0.70eV范围内的多个多子峰和少子峰.对各样品掺杂层内的能带弯曲及Ni杂质各荷电状态浓度空间分布在DLTS测量的零偏-反偏过程中的变化进行了计算.结合分析实测各能级热发射率数据,对其中起源于NiGa中心的DLTS峰作出了判断. 展开更多
关键词 深能极 磷化镓 DLTS 镍掺杂
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